[发明专利]一种单电阻电流采样方法及空调设备

摘要

本申请提供一种单电阻电流采样方法及空调设备，用于解决在对空调设备的电机进行单电阻电流采样时得到的采样电流的准确性较低的技术问题。该方法包括：在采用三角波对电机进行调制的过程中，获得所述电机的三个相电流在与所述三角波对应的PWM波中每个相电流对应的高电平持续时长；其中，所述PWM波的周期与所述三角波的周期相同；根据所述高电平持续时长及与所述电机对应的单电阻采样电路中绝缘栅双极型晶体管IGBT上的电流延迟时长，设置第一采样点和第二采样点；按照所述第一采样点和所述第二采样点对所述电机进行单电阻电流采样，确定所述电机的三个相电流值。

主权项

1.一种单电阻电流采样方法，其特征在于，所述方法包括：在采用三角波对电机进行调制的过程中，获得所述电机的三个相电流在与所述三角波对应的PWM波中每个相电流对应的高电平持续时长；其中，所述PWM波的周期与所述三角波的周期相同；根据所述高电平持续时长及与所述电机对应的单电阻采样电路中绝缘栅双极型晶体管IGBT上的电流延迟时长，设置第一采样点和第二采样点；包括：从所述三个相电流分别对应的高电平持续时长中确定第一高电平持续时长，所述第一高电平持续时长的值为三个高电平持续时长的中间值；确定所述IGBT的开通时长和关断时长；按照第一公式设置所述第一采样点及按照第二公式设置所述第二采样点；所述第一公式为：samp1＝T₁+T_of‑T_delay‑T_sh‑T_wt；所述第二公式为：samp2＝T₁+T_d+T_on+T_ring‑T_wt；其中，samp1为所述第一采样点对应的时刻，samp2为所述第二采样点对应的时刻，T₁为所述第一高电平持续时长，T_wt为微控制单元MCU进行模拟/数字A/D采样的等待时长，T_sh为所述MCU进行A/D采样的持续时长，T_d为所述MCU要求的死区时长，T_on为所述IGBT的开通时长，T_of为所述IGBT的关断时长，T_ring为所述IGBT所在的智能功率模块IPM的信号振铃时长；按照所述第一采样点和所述第二采样点对所述电机进行单电阻电流采样，确定所述电机的三个相电流值。