[发明专利]一种基于高精度校准器的相量测量单元PMU静动态测试系统有效
申请号: | 201510946018.5 | 申请日: | 2015-12-16 |
公开(公告)号: | CN105572616B | 公开(公告)日: | 2018-07-27 |
发明(设计)人: | 刘灏;王璐;毕天姝;钱程 | 申请(专利权)人: | 华北电力大学 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人: | 郑立明;陈亮 |
地址: | 102206*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于高精度校准器的相量测量单元PMU静动态测试系统,包括信号源,用于根据不同的测试用例,生成相应的测试信号;高精度校准器,用于对信号源生成的测试信号进行采样,并采用非线性回归同步相量算法对采样的测试信号进行计算,得到参考相量;量测相量提取模块,用于采用计算机设备作为相量测量单元PMU主站,向待测PMU发出离线召唤命令,提取并分析得到量测相量信息;分析比较模块,用于将量测相量信息与所述高精度校准器生成的参考相量进行比较,实现对所述待测PMU的静动态测试。从而解决基于高精度信号源的PMU测试系统对信号源要求高、无法对PMU进行现场测试的问题,实现了全面系统的PMU静态及动态测试。 | ||
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【主权项】:
1.一种基于高精度校准器的相量测量单元PMU静动态测试系统,其特征在于,所述测试系统包括信号源、高精度校准器、量测相量提取模块和分析比较模块,其中:所述信号源,用于根据不同的测试用例,生成相应的测试信号,具体包括:建立测试信号库,其中的幅值扫描测试、频率扫描测试、阶跃测试的信号利用所述信号源的状态序列模块生成;谐波影响测试、带外测试、调制测试、频率斜坡测试的信号利用Matlab将信号转化为Comtrade格式的文件,并利用所述信号源的暂态回放模块生成测试信号;所述高精度校准器,用于对所述信号源生成的测试信号进行采样,并采用非线性回归同步相量算法对采样的测试信号进行计算,得到参考相量;所述量测相量提取模块,用于采用计算机设备作为相量测量单元PMU主站,向待测PMU发出离线召唤命令,提取并分析得到所述待测PMU的量测相量信息,具体包括:将计算机设备作为PMU主站,向待测PMU发出离线召唤命令,提取规定时段内的相量离线数据帧;再按照PMU标准格式对该相量离线数据帧进行分析解读,提取出相量幅值、相角、频率、频率变化率、有功功率及无功功率,得到所述待测PMU的量测相量信息;然后进行数据格式转换,得到量测结果并储存;所述分析比较模块,用于将所得到的待测PMU的量测相量信息与所述高精度校准器生成的参考相量进行比较,得到相量、频率、功率误差及综合矢量误差;然后进行误差统计与分析评估,评估指标具体包括误差最大值、最小值、中位数、平均值和标准差,来分别表现所述待测PMU量测误差极值、平均水平及分布情况;将分析评估结果自动写入文档,形成完整的测试报告,实现对所述待测PMU的静动态测试。
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