[发明专利]测斜仪综合误差测试装置及测量方法有效

专利信息
申请号: 201510946580.8 申请日: 2015-12-16
公开(公告)号: CN106885584B 公开(公告)日: 2019-12-13
发明(设计)人: 万顺平;颜芳;朱雪萍;杨卓;徐锐;孙芳;陈俊;张文鹏;刘宇薇 申请(专利权)人: 航天科工惯性技术有限公司
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100074 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种测斜仪的综合误差技术指标测试装置及测试方法。测量原理为将测斜仪测头放入导槽内,通过电机驱动将测头沿导槽提升一段距离,通过球栅尺实现对测头滑动距离的精确测量,利用电子自准直仪发出的光经过五棱镜折转到固定在测斜仪测头的反光镜上,反射光经过五棱镜再折转至电子自准直仪上,得到测斜仪测头的精确角度偏移,通过自准直仪和测斜仪连续测量的间距得到实际的精确相对位移,测斜仪测量的位移与该值比较,得出综合误差;本发明填补了实验室检测测斜仪综合误差的空白,并且设备简单,操作方便,检测准确。
搜索关键词: 测斜仪 综合 误差 测试 装置 测量方法
【主权项】:
1.一种测斜仪综合误差测量方法,其特征在于,所述测斜仪综合误差测量方法包括以下步骤:/n步骤1,将测斜仪测头放置在带有导槽的测斜仪工况模拟装置中,调整测斜仪测头的工作倾角处于位置A;/n步骤2,控制测斜仪测头沿导槽向上提升,在测斜仪测头向上提升过程中,采用分段提升和测量,并对所述测斜仪测头进行正反两次测量,通过测头滑动距离测量装置和倾角测量装置测量并得到位置A下的基准累计位移值ΔA
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