[发明专利]静压气体止推轴承气膜面的气体压强分布测量装置及方法在审
申请号: | 201510951622.7 | 申请日: | 2015-12-17 |
公开(公告)号: | CN105606294A | 公开(公告)日: | 2016-05-25 |
发明(设计)人: | 陈瀚;周宇杰;陈学东 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01L11/02 | 分类号: | G01L11/02 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 梁鹏 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种静压气体止推轴承气膜面的气体压强分布测量装置及方法,该测量装置沿光路方向依次包括准直光源、起偏镜、1/4波片、前透明方块、光弹性薄片、后透明方块、1/4波片、检偏镜和成像记录仪,所述光弹性薄片采用受应力产生双折射现象的透明光弹性材料制成,固定在前后透明方块之间,并置于供气状态的止推轴承气膜之下;所述测量方法采用单色光通过起偏镜和1/4波片后垂直入射到光弹性薄片,并经过第二个1/4波片和检偏镜后产生明暗相间的干涉条纹,用成像记录仪记录光弹性条纹,经过计算和标定反映出光弹性薄片上连续的气体压强分布。本发明可实现对气膜无干扰的连续测量,具有精度高、测量方便等优点。 | ||
搜索关键词: | 静压 气体 轴承 气膜面 压强 分布 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种静压气体止推轴承气膜面的气体压强分布测量装置,其特征在于,该测量装置沿光路方向依次包括准直光源(1)、起偏镜(2)、第一1/4波片(3)、前透明方块(4)、光弹性薄片(5)、后透明方块(6)、第二1/4波片(7)、检偏镜(8)和成像记录仪(9),其中:所述准直光源(1)用于发射单色平行光;所述第一1/4波片(3)设置在起偏镜(2)之后,其快轴(F1)和慢轴(S1)相互垂直,且所述快轴(F1)和慢轴(S1)均与检偏镜(2)的偏振方向(P1)成45°;所述光弹性薄片(5)采用受应力后产生双折射现象的透明光弹性材料制成,其由所述前透明方块(4)和后透明方块(6)包夹,其位于供气状态下的静压气体止推轴承(10)之下,并与所述静压气体止推轴承(10)共同形成气膜面,所述光弹性薄片(5)的平面中心法向通过所述光路的轴心;所述第二1/4波片(7)设置在后透明方块(6)之后,其快轴(F2)和慢轴(S2)相互垂直,且快轴(F2)与第一1/4波片(3)的快轴(F1)垂直,慢轴(S2)与第一1/4波片(3)的慢轴(S1)垂直;所述检偏镜(8)用于成像,位于所述第二1/4波片(7)之后,其偏振方向(P2)与起偏镜(2)的偏振方向(P1)垂直;所述成像记录仪(9)与计算机相连。
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