[发明专利]一种横电磁波室阻抗匹配方法和装置有效

专利信息
申请号: 201510955490.5 申请日: 2015-12-17
公开(公告)号: CN105572484B 公开(公告)日: 2018-10-16
发明(设计)人: 刘星汛;齐万泉;黄承祖;马蔚宇;黄建领;付子豪;闫旭红 申请(专利权)人: 北京无线电计量测试研究所
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 代理人: 黄熊
地址: 100854 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种TEM室阻抗匹配方法和装置,能够实现在TEM室工作频段范围内,全频段内驻波小的要求。本发明所述装置包含内导体和外导体,其中,所述内导体的母线形状和/或所述外导体的母线形状为带斜率的指数渐变线。本发明所述方法包含以下步骤:建立阻抗匹配装置结构参数化模型;设置阻抗匹配装置的边界条件和材料参数,调整内、外导体斜率和指数项系数,内、外导体不连续面之间的距离,对电磁场进行仿真计算,以S参数为优化目标,直至得出最佳系数和最佳距离。本发明使得电磁波在TEM室里传输过程中回波少,能量损失少,驻波在工作频段内小于1.2。
搜索关键词: 一种 电磁波 阻抗匹配 方法 装置
【主权项】:
1.一种横电磁波室阻抗匹配装置,细部连接于同轴段,宽部连接于TEM室传输段,其特征在于:包含内导体和外导体,所述内导体和所述外导体与同轴段相连接的部位为不连续面,所述内导体的母线和所述外导体母线为带斜率的指数渐变线;所述内、外导体的不连续面之间存在距离;内导体的母线方程为外导体的母线方程为其中:x1为内导体高度;y1为内导体x1高度处的半径;r01为同轴段内导体半径;x0为内、外导体不连续面之间的距离;k1,k2为母线方程的指数项系数;b1,b2为母线方程的斜率;x2为外导体高度;y2为外导体x2高度处的半径;r02为同轴段外导体半径。
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