[发明专利]一种相控阵天线单元有源驻波比计算方法有效
申请号: | 201510955876.6 | 申请日: | 2015-12-17 |
公开(公告)号: | CN105445555B | 公开(公告)日: | 2018-09-14 |
发明(设计)人: | 韩国栋;高冲;张领飞;王焕菊;张宙 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十四研究所 |
主分类号: | G01R27/06 | 分类号: | G01R27/06 |
代理公司: | 河北东尚律师事务所 13124 | 代理人: | 王文庆 |
地址: | 050081 河北省石家*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 本发明公开了一种相控阵天线单元有源驻波比的计算方法,在相控阵天线阵列设计和测试时,对天线单元的有源驻波比性能的评估。本发明特别适用于为相控阵天线单元在进行波束扫描时其阵中单元的有源驻波比的变化进行评估,评估后的驻波比性能为整体的天线系统提供技术支持,并指导后续性能的改进。 | ||
搜索关键词: | 一种 相控阵 天线 单元 有源 驻波 计算方法 | ||
【主权项】:
1.一种相控阵天线单元有源驻波比的计算方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1、依据设计要求,在满足相控阵天线的扫描角度的情况下,设计出相控阵天线的单元排布方式、单元间距和单元结构形式;步骤2、确定被测相控阵天线单元所在相控阵天线子阵的规模并进行加工得到子阵;其中,相控阵天线子阵规模为n×m,n为子阵的行数,m为子阵的列数,n≤相控阵天线的行数N,m≤相控阵天线的列数M;步骤3、在子阵中,确定被测相控阵天线单元的位置;通过矢量网络分析仪进行测试,得到被测相控阵天线单元的电压反射系数参数以及被测相控阵天线单元与子阵中其他天线单元之间的互耦系数;步骤4、根据每一个天线单元的位置计算出对应的扫描相位:其中,dx为天线单元之间在x方向的间距,dy为天线单元之间在y方向的间距,λ为测试频率下的波长,θ0和在球坐标系下的扫描角度;步骤5、计算被测相控阵天线单元的有源驻波比VSWR(active):其中,S11(active)为被测相控阵天线单元的有源反射系数。
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