[发明专利]三维形状测量设备、三维形状测量方法有效
| 申请号： | 201510958072.1 | 申请日： | 2015-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN105783768B | 公开（公告）日： | 2018-09-04 |
| 发明（设计）人： | 青木隆浩 | 申请（专利权）人： | 富士通株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 康建峰;吴琼 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明公开了一种三维形状测量设备、三维形状测量方法及程序。该三维形状测量设备即使在亮度值与距离之间的关系偏离其中亮度值与距离的平方成反比的理想点光源模型的情况下也能够改进对对象的三维形状进行测量的准确度。生物认证设备(100)包括系数设置单元(41C)和三维形状测量单元(41E)，系数设置单元(41C)用于根据规定条件设置作为模型表达式中的幂的指数的系数，以使捕获图像的亮度值与从光源到所述亮度值的测量点的距离的幂的倒数成比例，三维形状测量单元(41E)用于根据系数和捕获图像的亮度值来测量对象的三维形状。 | ||
| 搜索关键词： | 三维 形状 测量 设备 测量方法 程序 | ||
【主权项】：
1.一种对包括在捕获图像中的对象的三维形状进行测量的三维形状测量设备，所述三维形状测量设备包括：设置装置，所述设置装置用于根据规定条件计算作为模型表达式中的幂的指数的系数，以使所述捕获图像的亮度值与从光源到所述亮度值的测量点的距离的幂的倒数成比例；第一校正装置，所述第一校正装置用于根据参考物体的亮度值和在所述捕获图像中所述对象的亮度值来估计所述对象的反射率，并且根据所估计的反射率对所述捕获图像的亮度值执行校正以使得所述对象的反射率几乎等于所述参考物体的反射率，所述参考物体是平面体，所述平面体的所存储的反射率为常数且已知；以及测量装置，所述测量装置用于根据所述系数和所述捕获图像的经校正的亮度值来测量所述对象的三维形状。
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