[发明专利]物品跟踪系统和方法在审
| 申请号： | 201510959244.7 | 申请日： | 2015-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN105425308A | 公开（公告）日： | 2016-03-23 |
| 发明（设计）人： | 宁洪志;田龙;王涛 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01V5/00 | 分类号： | G01V5/00;G01V8/20 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 孙洋 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及物品跟踪系统和方法。本发明提供了一种物品跟踪系统，其用于对经过安全检查的物品进行跟踪，包括：多个第一光学探测设备，被沿物品移动的路径排布并且用于探测物品的位置；第二光学探测设备，被沿该路径排布并且用于探测物品的第一特征；和控制装置，用于接收第一探测设备探测的位置，将第二探测设备探测的第一特征与外界输入或预先存储的第一预定义特征进行匹配，其中，当受测物品经过第二光学探测设备中的选定第二光学探测设备时并且当控制装置确定选定第二探测设备记录的受测物品的第一特征与受测物品的第一预定义特征匹配时，控制装置记录当前第一探测设备探测的受测物品的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 物品 跟踪 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种物品跟踪系统，其用于对经过安全检查的物品进行跟踪，所述物品跟踪系统包括：多个第一光学探测设备，所述多个第一光学探测设备被沿一个或多个物品移动的路径排布，并且用于探测所述一个或多个物品的位置；一个或多个第二光学探测设备，所述一个或多个光学第二探测设备被沿所述路径排布，并且用于探测所述一个或多个物品的第一特征；和控制装置，用于接收所述第一探测设备探测的位置，将所述第二探测设备探测的所述第一特征与外界输入或预先存储的第一预定义特征进行匹配，其中，当所述一个或多个物品中的受测物品经过所述一个或多个第二光学探测设备中的选定第二光学探测设备时并且当所述控制装置确定所述选定第二探测设备记录的所述受测物品的第一特征与所述受测物品的第一预定义特征匹配时，所述控制装置记录当前第一探测设备探测的所述受测物品的位置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于同方威视技术股份有限公司，未经同方威视技术股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510959244.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
