[发明专利]一种图像传感器芯片及其制造方法有效
申请号: | 201510960754.6 | 申请日: | 2015-12-18 |
公开(公告)号: | CN105514133B | 公开(公告)日: | 2018-08-14 |
发明(设计)人: | 林峰;肖海波 | 申请(专利权)人: | 豪威科技(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H01L21/762 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 余毅勤 |
地址: | 201210 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种图像传感器芯片及其制造方法,所述图像传感器芯片的制造方法与常规的刻蚀形成深沟道隔离槽,并在深沟道隔离槽中填充二氧化硅形成深沟道隔离不同,而是通过刻蚀像素的二氧化硅层,并在刻蚀后所形成的凹槽中形成单晶硅层,从而通过剩余的二氧化硅层形成深沟道隔离。如此,由于单晶硅层是刻蚀工艺后形成的,便可避免由深硅干式刻蚀引入的晶格损伤以及刻蚀污染的问题了;同时,剩余作为深沟道隔离的二氧化硅层也能够贯穿刻蚀后形成的单晶硅层。即深沟道隔离能够兼具像素间隔离较彻底以及晶格损伤较少、金属污染较轻的优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 图像传感器 芯片 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种图像传感器芯片的制造方法,其特征在于,包括:提供原始晶圆,所述原始晶圆在完成制造工艺后可形成多个芯片单元,每个芯片单元包括像素区和逻辑区,每个像素区包括多个像素单元,每个像素单元包括多个像素,所述原始晶圆包括单晶硅基底层及位于单晶硅基底层上的二氧化硅层;刻蚀间隔像素的二氧化硅层,形成多个间隔排布的第一次凹槽区;在每个第一次凹槽区中形成单晶硅层;刻蚀剩余像素的二氧化硅层,形成多个间隔排布的第二次凹槽区;在每个第二次凹槽区中形成单晶硅层;其中,像素之间剩余的二氧化硅层作为深沟道隔离。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
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