[发明专利]一种二维装配工艺系统可靠度计算方法

摘要

本发明公开了一种二维装配工艺系统可靠度计算方法，包括以下步骤：(1)建立由定位销公差、零件孔(槽)公差以及定位销累计磨损量引起的夹具定位偏差模型，根据零件偏差与夹具定位偏差的关系，建立零件偏差模型；(2)运用零件偏差的方差，构建零件装配偏差评估模型，得出保证零件装配偏差合格的定位销累计磨损量范围；(3)根据定位销累计磨损量近似服从正态分布的规律，得出定位销累计磨损量的概率密度函数；(4)依据定位销失效与零件孔(槽)尺寸偏差的关系，建立定位销失效率模型；(5)分别建立夹具定位销可靠度模型和零件装配偏差可靠度模型，得到二维装配工艺系统可靠度模型,计算不同装配次数下工艺系统的可靠度。本发明步骤简单，操作方便，提高了装配工艺系统可靠度的计算精度，为二维装配工艺系统可靠度预测提供了基础。

主权项

1.一种二维装配工艺系统可靠度计算方法，包括以下步骤：(1)建立由定位销公差、零件孔或零件槽公差以及定位销累计磨损量引起的夹具定位偏差模型，根据零件偏差与夹具定位偏差的关系，建立零件偏差模型；(2)以零件偏差的方差与规定阈值进行比较，构建零件装配偏差评估模型，得到保证零件装配偏差合格的定位销累计磨损量范围；(3)定位销单次磨损增量服从对数正态分布，根据中心极限定理，定位销累计磨损量近似服从正态分布，得出定位销累计磨损量的概率密度函数；(4)通过分析定位销失效与零件孔或零件槽尺寸偏差的关系，建立定位销失效率模型；(5)二维装配工艺系统由夹具定位销和零件组成，成串联关系，从夹具定位销失效和零件装配偏差的角度分析，建立工艺系统可靠度模型，得到可靠度：R(t)＝Rf(t)×Rq(t)，其中Rf(t)和Rq(t)分别表示夹具定位销可靠度和零件装配偏差可靠度，t表示装配次数。