[发明专利]测量结晶器水缝的量尺在审
申请号: | 201510961246.X | 申请日: | 2015-12-18 |
公开(公告)号: | CN105547068A | 公开(公告)日: | 2016-05-04 |
发明(设计)人: | 潘明旭;文汉云;肖莉娜;刘会乐;程俊;张钢;陈从星 | 申请(专利权)人: | 大冶特殊钢股份有限公司 |
主分类号: | G01B3/04 | 分类号: | G01B3/04 |
代理公司: | 北京五洲洋和知识产权代理事务所(普通合伙) 11387 | 代理人: | 刘春成;徐丽娜 |
地址: | 435001 *** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供一种测量结晶器水缝的量尺,包括:尺柄,用于测量水缝时握持;尺身,用于测量水缝的厚度,所述尺身的上端与所述尺柄的下端连接,在所述尺身的中心设有基准孔,在所述尺身的侧面且位于所述基准孔的高度位置的水平线为零基准线,在所述零基准线的上侧和下侧分别按毫米间隔标示刻度线。此量尺能将水缝的合格厚度通过量尺侧面的颜色范围可以明显看到,还可将量尺读数记下再准确测量水缝厚度,同时手柄还便于作为安装时调整水缝的工具。 | ||
搜索关键词: | 测量 结晶器 | ||
【主权项】:
一种测量结晶器水缝的量尺,其特征在于:包括:尺柄,用于测量水缝时握持;尺身,用于测量水缝的厚度,所述尺身的上端与所述尺柄的下端连接,在所述尺身的中心设有基准孔,在所述尺身的侧面且位于所述基准孔的高度位置的水平线为零基准线,在所述零基准线的上侧和下侧分别按毫米间隔标示刻度线。
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