[发明专利]一种导轨平行度测量方法及装置在审
申请号: | 201510961972.1 | 申请日: | 2015-12-18 |
公开(公告)号: | CN105403189A | 公开(公告)日: | 2016-03-16 |
发明(设计)人: | 李曦;陈晗;孔刚;朱念念;龙子凡;郭永才;毛延玺;陈吉红 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学;武汉华中数控股份有限公司 |
主分类号: | G01B21/22 | 分类号: | G01B21/22 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种导轨平行度测量方法,具体为:将左、右侧导轨的其中一侧作为基准导轨,另一侧作为被测导轨;同时采样左侧、右侧导轨的高度信息;采用最小二乘法对基准导轨的采样高度进行拟合得到一条基线;在基准导轨上依据基线生成两组包容线,从两组包容线的间距选择最小者,其对应的上、下包容线作为评定平行度的基准包容线;生成平行于基准包容线且包容被测导轨采样高度的上、下包容线,上、下包容线间的纵向间距即为平行度。本发明还提供实现上述方法的装置。本发明实现了机床导轨平行度的快速测量,解决现有测量方法计算冗杂、操作难度大的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 导轨 平行 测量方法 装置 | ||
【主权项】:
一种导轨平行度测量方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)将左、右侧导轨的其中一侧作为基准导轨,另一侧作为被测导轨;(2)同时采样左侧、右侧导轨的高度信息;(3)采用最小二乘法对基准导轨的采样高度进行拟合得到一条基线;(4)在基准导轨上搜索距离基线上方最远的两个测量点高度,两高度连接生成第一上包容线;在基准导轨上搜索距离基线下方最远的一个测量点高度,生成通过该测量点且平行于第一上包容线的第一下包容线;(5)在基准导轨上搜索距离基线下方最远的两个测量点高度,两高度连接生成第二下包容线;在基准导轨上搜索距离基线上方最远的一个测量点高度,生成通过该测量点且平行于第二下包容线的第二上包容线;(6)从第一上、下包容线的间距和第二上、下包容线的间距选择最小者,其对应的上、下包容线作为评定平行度的基准包容线;(7)生成平行于基准包容线且包容被测导轨采样高度的上、下包容线,上、下包容线间的纵向间距即为平行度。
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