[发明专利]基于厚度基准传递的光学透镜中心厚测量方法

摘要

基于厚度基准传递的光学透镜中心厚测量方法属于光学干涉测量技术领域，该方法包括：加工一个满足国标要求的，与被检光学透镜同一批次生产的光学材料标准量块；通过镜面定位仪测量所述标准量块的光程L₀，L₀＝nT₀，n为光学材料的群折射率，T₀为标准量块的物理厚度；利用立式光学计测量所述标准量块的物理厚度T₀，通过镜面定位仪和立式光学计测量结果的比值获得光学材料的群折射；通过镜面定位仪测量被检光学透镜的中心光程L，则光学透镜中心厚度T可由下式计算：T＝L/n＝L×T₀/L₀。本发明通过结合基于宽带短相干激光干涉术的镜面定位仪和标准量块厚度基准传递精确测量光学透镜材料的群折射率，从而确保利用镜面定位仪实现光学透镜中心厚高精度测量。

主权项

基于厚度基准传递的光学透镜中心厚测量方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：步骤一：加工一个满足国标要求的，与被检光学透镜同一批次生产的光学材料标准量块；步骤二：通过镜面定位仪测量所述标准量块的光程L₀，L₀＝nT₀，其中，n为光学材料的群折射率，T₀为标准量块的物理厚度；步骤三：利用立式光学计测量所述标准量块的物理厚度T₀，通过镜面定位仪和立式光学计测量结果的比值获得光学材料的群折射率；步骤四：通过镜面定位仪测量被检光学透镜的中心光程L，则光学透镜中心厚度T可由下式计算：T＝L/n＝L×T₀/L₀。