[发明专利]一种非接触式超高温环境下温度参数提取装置有效

专利信息
申请号: 201510963254.8 申请日: 2015-12-18
公开(公告)号: CN105606245B 公开(公告)日: 2018-08-17
发明(设计)人: 张文强;宁曰民;年夫顺;刘金现;熊继军 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: G01K7/16 分类号: G01K7/16
代理公司: 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 代理人: 陈永宁
地址: 266000 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明涉及一种非接触式超高温环境下温度参数提取装置,包括接收处理单元、连接线缆、宽带接收天线、矩形介质谐振与发射天线复合结构;接收与处理单元通过连接线缆连接宽带接收天线,其置于普通温度环境内,向矩形介质谐振与发射天线复合结构发送和接收宽带信号;矩形介质谐振与发射天线复合结构置于超高温环境中,包括参考地和安装在参考地上的喇叭形辐射源和介质层;介质层的介电常数随温度变化,喇叭形辐射源感应介质层的介电常数变化后发生谐振并发送其谐振频率到宽带接收天线;该装置具有较小的结构尺寸,可直接将温度敏提取装置置于超高温环境中,能够长时间、实时监测超高温环境下的温度参数。
搜索关键词: 一种 接触 超高温 环境 温度 参数 提取 装置
【主权项】:
1.一种非接触式超高温环境下温度参数提取装置,其特征在于,包括接收处理单元(1)、连接线缆(2)、宽带接收天线(3)、矩形介质谐振与发射天线复合结构(4);接收与处理单元(1)通过连接线缆(2)连接宽带接收天线(3),其置于普通温度环境内,向矩形介质谐振与发射天线复合结构(4)发送和接收宽带信号;矩形介质谐振与发射天线复合结构(4)置于超高温环境中,包括参考地(8)和安装在参考地(8)上的喇叭形辐射源(5)和介质层(7);介质层(7)的介电常数随温度变化,并发生谐振,喇叭形辐射源(5)采集介质层(7)的谐振波并发送到宽带接收天线(3);接收与处理单元通过宽带接收天线向置于高温环境中的谐振器发出宽带信号,使其产生谐振,并通过宽带接收天线接收该谐振信号,接收与处理单元处理得到其谐振频率fr;其中,c0为真空中的光速,Leff为矩形贴片谐振器的有效长度,ξeff表示为材料的有效介电常数,ξr为介质的相对介电常数,h表示介质层厚度,W表示微带贴片谐振器的宽度;根据介质材料的相对介电常数ξr与温度的对应关系,得到高温环境的温度值;选取两种耐高温介质材料Si6B1与Si4B1,经测试介电常数ξr在不同温度环境下的关系如下表所示:
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