[发明专利]空腔形成方法、热电堆红外探测器及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201510967729.0 申请日: 2015-12-18
公开(公告)号: CN105576070B 公开(公告)日: 2017-12-22
发明(设计)人: 孙福河;闻永祥;季锋;刘琛;陈雪平;孙伟 申请(专利权)人: 杭州士兰集成电路有限公司
主分类号: H01L31/09 分类号: H01L31/09;G01J5/12;H01L31/18
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 代理人: 余毅勤
地址: 310018 浙江省杭州市杭*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种空腔形成方法、热电堆红外探测器及其制作方法,所述空腔形成方法在硅衬底中形成N阱,在N阱包围的硅衬底中形成N型掺杂的网格结构,并进行电化学腐蚀形成多孔硅层,再通过外延工艺使多孔硅层发生重构形成封闭的空腔。本发明无需通过长时间的湿法腐蚀或干法刻蚀工艺来形成空腔,并且空腔的形成是在金属淀积之前,不存在常规湿法腐蚀硅衬底形成空腔的工艺中对金属的腐蚀问题,此外,该空腔的形成方法比较简单,可与常规CMOS工艺兼容,适于规模化生产。
搜索关键词: 空腔 形成 方法 热电 红外探测器 及其 制作方法
【主权项】:
一种热电堆红外探测器的制作方法,其特征在于,包括:提供一P型掺杂的硅衬底;在所述硅衬底中形成N阱,所述N阱为环状结构;在所述N阱包围的硅衬底中形成N型掺杂的网格结构,所述网格结构的边缘与所述N阱相连接;对所述N阱包围的硅衬底进行电化学腐蚀以形成多孔硅层;进行外延工艺以使所述多孔硅层发生迁移和重构形成空腔,且所述网格结构包含的空洞闭合以形成封闭所述空腔的外延层;在所述外延层上依次形成绝缘层;在所述绝缘层上形成热电堆,所述热电堆的热端位于所述空腔上方的绝缘层上,所述热电堆的冷端与所述硅衬底相连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州士兰集成电路有限公司,未经杭州士兰集成电路有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510967729.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top