[发明专利]一种测量天线驻波比的装置和方法有效
申请号: | 201510967824.0 | 申请日: | 2015-12-22 |
公开(公告)号: | CN105629070B | 公开(公告)日: | 2019-02-15 |
发明(设计)人: | 马秀荣;单云龙 | 申请(专利权)人: | 天津理工大学 |
主分类号: | G01R27/06 | 分类号: | G01R27/06 |
代理公司: | 北京律谱知识产权代理事务所(普通合伙) 11457 | 代理人: | 黄云铎 |
地址: | 300384 *** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: |
本发明公开了一种测量天线驻波比的装置,其特征在于,该装置包括:两个相同的功率门限检测装置,第一功率门限检测装置(10)用于检测第一发射信号(01)的功率P1,第二功率门限检测装置(20)用于检测第二发射信号(02)的功率P2;设定第一功率门限检测装置(10)与天线(40)之间的距离 |
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搜索关键词: | 一种 测量 天线 驻波 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种测量天线驻波比的方法,其中:测量天线驻波比的装置包括两个相同的功率门限检测装置,第一功率门限检测装置(10)用于检测第一发射信号(01)的功率P1,第二功率门限检测装置(20)用于检测第二发射信号(02)的功率P2;设定第一功率门限检测装置(10)与天线(40)之间的距离
第二功率门限检测装置(20)与天线(40)之间的距离
λ为发射信号波长,其特征在于,该方法包括:步骤1、校准所述第一功率门限检测装置(10)与天线(40)之间的距离
步骤2、校准所述第二功率门限检测装置(20)与天线(40)之间的距离
步骤3、逐渐增加发射信号功率,直到所述第一功率门限检测装置(10)工作,此时的发射信号为所述第一发射信号(01),记录所述第一发射信号(01)的功率P1,继续增加发射信号功率,直到所述第二功率门限检测装置(20)工作,此时的发射信号为所述第二发射信号(02),记录所述第二发射信号(02)的功率P2;步骤4、计算天线驻波比VSWR:![]()
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