[发明专利]一种精密锥孔精度测量方法有效

专利信息
申请号: 201510968280.X 申请日: 2015-12-22
公开(公告)号: CN105571461B 公开(公告)日: 2017-11-28
发明(设计)人: 肖双勇;王帅;陈晓强;吴武山 申请(专利权)人: 郑州磨料磨具磨削研究所有限公司
主分类号: G01B5/12 分类号: G01B5/12;G01B5/24
代理公司: 郑州联科专利事务所(普通合伙)41104 代理人: 时立新
地址: 450001 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 一种精密锥孔精度测量方法,包括如下步骤(1)用大理石平板校正精密锥孔精度测量装置零位(2)用标准环规校准精密锥孔精度测量装置(3)测量精密锥孔大端直径本发明的有益效果1、精密锥孔精度测量装置实现了锥孔锥角和大端直径的同步在线测量,避免了锥孔轴向尺寸的错误,提高了锥孔加工的精度,提高了锥孔加工的效率。2、本发明的测量方法操作简单方便,降低了工人的劳动强度,简化了锥孔的加工检测流程。3、精密锥孔精度测量装置结构简单可靠,提高了产品生产的成品率,保证产品质量,降低锥孔加工的成本。
搜索关键词: 一种 精密 精度 测量方法
【主权项】:
一种精密锥孔精度测量方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)用大理石平板校正精密锥孔精度测量装置零位所述精密锥孔精度测量装置由千分表、表座、标准垫、锥度塞规和标准环规组成,表座为一圆柱体,表座通过螺钉固定在标准垫的上表面且表座和标准垫同心,表座和标准垫的中心均开有中心孔,锥度塞规位于表座和标准垫的中心孔内,表座和标准垫远离螺钉的一端并且和螺钉相对称的位置均开设有通孔,千分表的下部固定于通孔内且千分表的触头与标准垫的下表面平齐;去掉锥度塞规,在大理石平板上,压紧表座中心,将千分表调零;(2)用标准环规校准精密锥孔精度测量装置用标准环规作为测试基准,将锥度塞规装入标准环规的锥孔中,用手稍用力压,使其完全吻合,根据千分表读数和标准垫厚度计算出锥度塞规凸出高度Hb;(3)测量精密锥孔大端直径手持精密锥孔精度测量装置,将锥度塞规塞入被测砂轮基体的锥孔中,用手稍用力压,使其完全吻合,根据千分表读数和标准垫厚度计算出锥度塞规凸出高度Hc;(4)结果判定根据公式,——锥孔的锥角,ΔD——为锥孔大端孔径变化量,ΔH——为锥孔轴向尺寸变化量,计算出ΔH,比较Hb,Hc,若Hb,Hc的差值在0~ΔH之间,则被测基体的大端直径合格,反之则不合格。
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