[发明专利]一种基于开关电容阵列采样的半导体激光测距机在审

专利信息
申请号: 201510974672.7 申请日: 2015-12-23
公开(公告)号: CN105403892A 公开(公告)日: 2016-03-16
发明(设计)人: 王飞;王锐;王挺峰;郭劲 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 张伟
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明涉及一种基于开关电容阵列采样的半导体激光测距机,包括与主控模块相连的发射端和接收端;所述发射端依次包括:LD驱动模块,LD模块,以及LD整形发射模块;所述接收端依次包括:回波接收模块,APD放大模块,SCA采样积分模块,以及ADC模块;所述SCA采样积分模块中包含确定数量N的采样单元,每个采样单元包括采样开关,输出开关和采样电容;数字脉冲按顺序传播,使得各采样单元的采样开关依次闭合,采样开关闭合时,输入电流信号将对对应位置的采样电容充电。本发明相比传统的AD采样加存储方式,系统功耗、处理器运算速度等需求均大幅减小,可以利用更小的系统体积、更低的功耗实现更远的作用距离和更高的测距精度。
搜索关键词: 一种 基于 开关 电容 阵列 采样 半导体 激光 测距
【主权项】:
一种基于开关电容阵列采样的半导体激光测距机,其特征在于,包括与主控模块相连的发射端和接收端;所述发射端依次包括:LD驱动模块,LD模块,以及LD整形发射模块;所述接收端依次包括:回波接收模块,APD放大模块,SCA采样积分模块,以及ADC模块;所述SCA采样积分模块中包含确定数量N的采样单元,每个采样单元包括采样开关,输出开关和采样电容;数字脉冲按顺序传播,使得各采样单元的采样开关依次闭合,采样开关闭合时,输入电流信号将对对应位置的采样电容充电。
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