[发明专利]扫描方法、扫描系统及射线扫描控制器有效

专利信息
申请号: 201510976300.8 申请日: 2015-12-23
公开(公告)号: CN105548223B 公开(公告)日: 2019-07-02
发明(设计)人: 康克军;刘耀红;赵自然;贾玮;顾建平;唐传祥;陈怀璧;高建军;印炜;刘西颖 申请(专利权)人: 清华大学;同方威视技术股份有限公司
主分类号: G01N23/10 分类号: G01N23/10
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 曹蓓
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提出一种扫描方法、扫描系统和射线扫描控制器,涉及辐射领域。其中,本发明的扫描方法包括:通过探测器获取射线扫描待测物体的探测数据;根据探测数据调整射线发射装置的加速器的出束剂量率和/或电子束出束能量。通过这样的方法,能够根据探测器获取的探测数据调整射线发射装置的加速器的工作状态,从而达到对质量厚度高的区域采用较高的出束剂量率或较高的电子束出束能量以保证达到成像技术指标,对质量厚度低的区域采用较低的出束剂量率或较低的电子束出束能量,在保证达到成像技术指标的同时降低环境剂量水平。
搜索关键词: 扫描 方法 系统 射线 控制器
【主权项】:
1.一种扫描方法,其特征在于,包括:通过探测器获取射线扫描待测物体的探测数据,所述探测数据包括待测物体在探测图像中的透明度信息,包括:获取探测区域的初始透明度信息,根据本底图像和空气图像对初始透明度信息进行矫正,得到待测物体的透明度信息;根据所述探测数据调整射线发射装置的加速器的出束剂量率和/或电子束出束能量。
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