[发明专利]一种毫米波相控阵测试标定方法

摘要

本发明公开了一种毫米波相控阵测试标定方法，它涉及毫米波相控阵标定误差特性分析，尤其涉及相控阵天线的通道不一致性以及单元天线的相位中心偏移的计算方法，所述方法包括：一、根据测试得到的相控阵天线方向图，建立包含相控阵天线通道不一致，单元天线相位中心偏移量的相关函数；二、对优化目标参数进行值域空间分解；三、采用确定性方法对强空间谱分量对应的值域进行求解，采用遗传算法对弱空间谱分量对应的值域进行优化。本发明提出的毫米波相控阵测试标校方法，能够在少量测试工作的条件下，实现对相控阵指向精度的标校，测试工作量大幅减少，节省了人力、物力以及工作时间，而且不需要投入复杂且精密的平面扫描框架，降低了系统的复杂度以及投入成本。

主权项

1.一种毫米波相控阵测试标定方法，用于对毫米波相控阵天线的波束形成性能进行测试标定，其特征在于包括以下步骤：(101)初始化配置测试环境，配置所需的测试仪器和测试设备；(102)根据所配置的测试环境采集得到未标校的毫米波相控阵方向图；(103)通过峰值查找法，查找未标校的毫米波相控阵方向图得到实际的波束峰值；(104)根据实际的波束峰值建立相控阵指向精度的分析模型，包含相控阵阵元间不一致性和单元间互耦参数；(105)通过分析模型，建立解析的目标函数，对目标函数进行优化求解，实现对毫米波相控阵性能的标定；其中，步骤(105)具体为：(501)通过分析模型，建立解析的目标函数；(502)通过奇异值分解，对目标函数矩阵进行空间分解，得到强空间谱分量和弱空间谱分量；(503)直接优化求解强空间谱分量对应的目标标校参数值；(504)应用遗传算法优化求解弱空间谱分量对应的目标标校参数值；(505)合并强空间谱分量和弱空间谱分量优化求解得到的目标标校参数值；并应用优化求解得到的目标标校参数值对相控阵天线进行标定；完成毫米波相控阵的测试标定。