[发明专利]探测器暗场图像模板中震颤或敲击伪影的识别及校正方法有效

专利信息
申请号: 201510980121.1 申请日: 2015-12-23
公开(公告)号: CN105574833B 公开(公告)日: 2018-11-27
发明(设计)人: 张楠;黄细平;沈文泓 申请(专利权)人: 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
主分类号: G06T5/50 分类号: G06T5/50;G06T5/00;G06T7/00
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 余明伟
地址: 201201 上海市浦东新区张江*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种探测器暗场图像模板中震颤或敲击伪影的识别及校正方法,包括以下步骤:1)采集具有不同采集延时的暗场图像模板作为标准图像模板;2)对标准图像模板进行坏像素查找并对坏像素进行替换处理;3)采集临床暗场图像模板;4)对临床暗场图像模板进行坏像素查找并对坏像素进行替换处理;5)对坏像素替换处理后的临床暗场图像模板进行偏移量校正;6)对偏移量校正后的临床暗场图像模板进行震颤或敲击伪影与lag伪影及漏电流伪影区分并识别。本发明可简单快捷的完成对震颤或敲击伪影的识别与校正,能够在几乎不改变正常暗场图像的暗场图像质量的前提下,实时有效地校正震颤或敲击伪影,提高了平板探测器的抗震颤或敲击性能。
搜索关键词: 探测器 暗场 图像 模板 震颤 敲击 识别 校正 方法
【主权项】:
1.一种探测器暗场图像模板中震颤或敲击伪影的识别方法,所述震颤或敲击伪影是由探测器振动引起的运动伪影,所述识别方法的特征在于,包括以下步骤:1)采集具有不同采集延时的暗场图像模板作为标准图像模板;2)对所述标准图像模板进行坏像素查找并对坏像素进行替换处理;3)采集临床暗场图像模板;4)对所述临床暗场图像模板进行坏像素查找并对坏像素进行替换处理;5)对坏像素替换处理后的所述临床暗场图像模板进行偏移量校正;6)对偏移量校正后的所述临床暗场图像模板进行震颤或敲击伪影与lag伪影及漏电流伪影区分并识别,所述lag伪影是由上一帧亮场曝光后残余信号在下一帧暗场被读出所产生的伪影,所述漏电流伪影是由探测器的漏电流所产生的伪影;其中,步骤6)包括:61)分别对每一行的像素灰度值求标准差,得到所有行的标准差;62)找出疑似含有震颤或敲击伪影的疑似行:所述疑似行的像素灰度值的标准差大于位于其前三行及位于其后三行中的像素灰度值的标准差,且所述疑似行的像素灰度值的标准差与位于其前三行及位于其后三行中的像素灰度值的标准差的平均值之差大于第一设定值;63)求所述疑似行中像素灰度值的平均值,并分别求位于所述疑似行前三行及后三行中像素灰度值的平均值;求这些平均值中的最大值与其他几个平均值的平均值的差值;64)求所述疑似行中像素灰度值的中值、所述疑似行中位于奇数列的像素灰度值的中值及所述疑似行中位于偶数列的像素灰度值的中值;找出位于奇数列的像素灰度值的中值大于该行像素灰度值的中值且位于偶数列的像素灰度值的中值小于该行像素灰度值的中值,或位于奇数列的像素灰度值的中值小于该行像素灰度值的中值且位于偶数列的像素灰度值的中值大于该行像素灰度值的中值的疑似行;65)找出步骤64)得到的所述疑似行中位于奇数列的像素灰度值大于该行像素灰度值的中值的数目及位于偶数列的像素灰度值小于该行像素灰度值的中值的数目,或找出步骤64)得到的所述疑似行中位于奇数列的像素灰度值小于该行像素灰度值的中值的数目及位于偶数列的像素灰度值大于该行像素灰度值的中值的数目;求符合上述条件的位于奇数列的像素灰度值的数目与位于偶数列的像素灰度值的数目的差值,并找出二者中的最大值;66)依据步骤63)中得到的差值、步骤65)中得到的差值及最大值判断所述疑似行中是否含有震颤或敲击伪影。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海奕瑞光电子科技股份有限公司,未经上海奕瑞光电子科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510980121.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top