[发明专利]半导体设备

摘要

本发明涉及半导体设备。提供了一种测试容易化和调试容易化用的电路规模小且在所需要工作的初始设定中不需要时间的半导体设备。半导体设备当从测试使能端子指定测试使能时，将既定的多个状态信息依照既定的顺序周期地从测试输出端子依次输出，当指定测试禁用时，继续输出与在其定时从测试输出端子输出的状态信息相同的信息。不需要初始设定，只要操作测试使能端子，就周期地输出多个状态信息，此外，继续输出仅期望的状态信息。

主权项

一种半导体设备，其中，具有：处理部，处理经由接口部输入的数据并输出；控制部，基于经由所述接口部输入的控制数据来控制所述处理部；第一寄存器部，并联地转送所述处理部的工作中的所述接口部和所述控制部内的多个状态信息；以及测试控制部，在从测试使能端子指示测试使能时，重复控制一边串联地选择所述第一寄存器部保有的多个状态信息一边依次从测试输出端子根据规定的输出格式进行输出的工作，在从所述测试使能端子指示测试禁用时，进行在中断了所述状态信息的串联的选择的状态下从所述测试输出端子继续地输出相同的状态信息的控制。