[发明专利]鳍式晶体管的形成方法有效

专利信息
申请号: 201510993741.9 申请日: 2015-12-25
公开(公告)号: CN106920776B 公开(公告)日: 2019-12-03
发明(设计)人: 李勇 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: H01L21/8234 分类号: H01L21/8234
代理公司: 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 徐文欣;吴敏<国际申请>=<国际公布>=
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种鳍式晶体管的形成方法,包括:提供具有P型区和N型区的衬底,P型区和N型区的衬底表面分别具有鳍部和隔离层;形成横跨P型区和N型区鳍部的栅极结构;在P型区栅极结构两侧的鳍部顶部形成第一外延层;在第一外延层表面形成具有锗离子的第一覆盖层,第一覆盖层内掺杂有P型离子;在N型区栅极结构两侧的鳍部顶部形成第二外延层;在第二外延层表面形成具有锗离子的第二覆盖层,第二覆盖层内掺杂有N型离子;至少在部分第一覆盖层和第二覆盖层表面形成硅化层,硅化层内具有钛离子;进行第一退火工艺,使第一覆盖层形成第一金属硅化层,使第二覆盖层形成第二金属硅化层。所形成的鳍式晶体管性能改善。
搜索关键词: 晶体管 形成 方法
【主权项】:
1.一种鳍式晶体管的形成方法,其特征在于,包括:/n提供衬底,所述衬底具有P型区和N型区,所述P型区和N型区的衬底表面分别具有鳍部,所述衬底表面具有隔离层,所述隔离层覆盖鳍部的部分侧壁,且所述隔离层的表面低于所述鳍部的顶部表面;/n形成横跨所述P型区和N型区鳍部的栅极结构,所述栅极结构位于所述鳍部的部分侧壁和顶部表面;/n在P型区栅极结构两侧的鳍部顶部形成第一外延层;/n在所述第一外延层表面形成第一覆盖层,所述第一覆盖层内具有锗离子,且所述第一覆盖层内掺杂有P型离子;/n在N型区栅极结构两侧的鳍部顶部形成第二外延层;/n在所述第二外延层表面形成第二覆盖层,所述第二覆盖层内具有锗离子,所述第二覆盖层内掺杂有N型离子;/n在形成所述第二覆盖层之后,在所述隔离层表面、栅极结构表面和鳍部表面形成介质层,所述介质层内具有暴露出至少部分第一覆盖层的第一通孔、以及暴露出至少部分第二覆盖层的第二通孔;/n在所述第一通孔底部的第一覆盖层表面、以及第二通孔底部的第二覆盖层表面形成硅化层,所述硅化层内具有钛离子;/n进行第一退火工艺,使所述硅化层内的钛离子扩散入第一覆盖层和第二覆盖层内,使第一覆盖层形成第一金属硅化层,使第二覆盖层形成第二金属硅化层。/n
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