[发明专利]GIP检测电路和平板显示装置在审

专利信息
申请号: 201510998234.4 申请日: 2015-12-28
公开(公告)号: CN105390079A 公开(公告)日: 2016-03-09
发明(设计)人: 杨楠;张婷婷;胡思明;袁晓冬;宋艳芹 申请(专利权)人: 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 余毅勤
地址: 215300 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 在本发明提供的GIP检测电路和平板显示装置中,通过第六晶体管和第七晶体管分别将高电平和低电平耦合到检测端,消除检测端的噪声,从而提高所述GIP检测电路的测试效果。
搜索关键词: gip 检测 电路 平板 显示装置
【主权项】:
一种GIP检测电路,其特征在于,包括:多个依次连接的检测单元,每个检测单元均包括:第一晶体管至第七晶体管、电容器、检测端、起始信号端、第一时钟信号端、第二时钟信号端、第一栅极信号端、第二栅极信号端以及输出端;其中,第一晶体管连接在起始信号端与第一节点之间,第一晶体管的栅极与第一时钟信号端连接;第二晶体管连接在第二时钟信号端与输出端之间,第二晶体管的栅极连接至第一节点;第三晶体管连接在第一栅极信号端与第二节点之间,第三晶体管的栅极与输出端连接;第四晶体管连接在第二节点与第二栅极信号端之间,第四晶体管的栅极与第一时钟信号端连接;第五晶体管连接在第一栅极信号端与输出端之间,第五晶体管的栅极连接至第二节点;第六晶体管连接在第七晶体管与输出端之间,第六晶体管的栅极连接至第一节点;第七晶体管连接在第六晶体管与检测端之间且源漏短接,第七晶体管的栅极连接至第二节点;电容器连接在第一节点与输出端之间。
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