[发明专利]数据恢复电路、半导体存储装置及数据恢复方法有效
申请号: | 201511000931.2 | 申请日: | 2015-12-28 |
公开(公告)号: | CN106528321B | 公开(公告)日: | 2019-06-07 |
发明(设计)人: | 近藤阳介;吉田贤治 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 刘静;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 实施方式提供即使在多个数据存在错误的情况下也能够使用XOR运算来恢复原始数据的数据恢复电路、半导体存储装置及数据恢复方法。在实施方式中,XOR运算部15进行从复用器14输出的数据的各位彼此间的XOR运算,错误要因推定部19基于NAND存储器2特有的错误要因,推定错误位的反转方向,错误位位置推定部20基于XOR运算部15的XOR运算结果来推定错误位位置,错误临时判定部21向与由错误要因推定部19推定的反转方向相反的方向进行由错误位位置推定部20推定的错误位位置处的位反转。 | ||
搜索关键词: | 数据 恢复 电路 半导体 存储 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种数据恢复电路,具备:XOR运算部,其进行包括N位的M个数据的各位彼此间的XOR运算,所述N、M为2以上的整数;错误位位置推定部,其基于上述XOR运算结果来推定错误位位置;错误要因推定部,其推定上述错误位的反转方向;错误临时判定部,其向与上述反转方向相反的方向进行上述错误位位置处的位反转。
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