[发明专利]闪存寿命预测方法和筛选方法

摘要

一种闪存寿命预测方法和筛选方法，所述闪存寿命预测方法包括检测采样闪存在被擦除后的多个不同的等待时间值后的余量电流；根据所述采样闪存的多个所述等待时间值和所述余量电流，拟合得到所述余量电流与所述等待时间值的自然对数之间的第一映射关系，所述第一映射关系为线性关系；根据所述第一映射关系计算待预测闪存的余量电流下降至预设失效余量电流所需的等待时间值，作为所述待预测闪存的寿命。本发明的闪存寿命预测方法和筛选方法提高了闪存寿命预测以及闪存筛选的准确性和便捷性。

主权项

1.一种闪存寿命预测方法，其特征在于，包括：检测采样闪存在被擦除后的多个不同的等待时间值后的余量电流；根据所述采样闪存的多个所述等待时间值和所述余量电流，拟合得到所述余量电流与所述等待时间值的自然对数之间的第一映射关系，所述第一映射关系为线性关系；根据所述第一映射关系计算待预测闪存的余量电流下降至预设失效余量电流所需的等待时间值，作为所述待预测闪存的寿命；根据所述第一映射关系计算待预测闪存的所述余量电流下降至所述预设失效余量电流所需的所述等待时间值包括：基于多个所述采样闪存的所述第一映射关系，拟合得到第一等待时间值和第二等待时间值的第二映射关系，其中，所述第一等待时间值为所述采样闪存的余量电流下降至预设余量电流所需的等待时间，所述第二等待时间值为所述采样闪存的余量电流下降至所述预设失效余量电流所需的等待时间；检测所述待预测闪存的所述第一等待时间值，基于所述第二映射关系得到所述第二等待时间值，所述待预测闪存的寿命为所述第二等待时间值。