[发明专利]一种光学测绘相机辐射性能指标的量化方法在审
| 申请号： | 201511003352.3 | 申请日： | 2015-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN105677943A | 公开（公告）日： | 2016-06-15 |
| 发明（设计）人： | 智喜洋;胡建明;孙晅;张伟;傅斌 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50;G06N3/12;G06T7/00 |
| 代理公司： | 哈尔滨龙科专利代理有限公司 23206 | 代理人： | 高媛 |
| 地址： | 150000 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测绘相机辐射性能指标的量化方法，其步骤如下：步骤1：基于最小二乘影像匹配，推导得出影响测绘精度的相机辐射性能指标；步骤2：在步骤1基础上，分析各指标对测绘匹配精度的影响规律；步骤3：以实现相机辐射指标与场景信息去相关解耦为目的，提出场景信息表征参数；步骤4：在步骤2和3基础上，构建相机辐射指标与测绘精度之间的关联模型；步骤5：结合步骤4所建模型，提出相机辐射指标量化方法。本发明提供的方法建立了相机辐射指标与匹配精度之间的关联模型，利用该模型可为测绘相机辐射性能指标的量化与优化设计及性能预估提理论指导与技术支撑。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 测绘 相机 辐射 性能指标 量化 方法 | ||
【主权项】：
一种测绘相机辐射性能指标的量化方法，其特征在于所述方法步骤如下：步骤1：基于最小二乘影像匹配，推导得出影响测绘精度的相机辐射性能指标：场景的空间结构、MTF、SNR以及RRD；步骤2：在步骤1基础上，分析各指标对测绘匹配精度的影响规律；步骤3：以实现相机辐射指标与场景信息去相关解耦为目的，提出场景信息表征参数；步骤4：在步骤2和3基础上，构建相机辐射指标与测绘精度之间的关联模型；步骤5：结合步骤4所建模型，提出相机辐射指标量化方法。
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