[发明专利]一种基于行间重叠的电荷补偿方法有效
申请号: | 201511003632.4 | 申请日: | 2015-12-28 |
公开(公告)号: | CN105655364B | 公开(公告)日: | 2018-09-25 |
发明(设计)人: | 林言成;于祥国 | 申请(专利权)人: | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 余明伟 |
地址: | 201201 上海市浦东新区张江*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种基于行间重叠的电荷补偿方法,包括:打开非晶硅TFT阵列的第一行开关管,所述非晶硅TFT阵列的第一行为假像元行;打开所述非晶硅TFT阵列的第二行开关管的同时关闭第一行开关管,第二行开关管打开瞬间产生的冲击电流与第一行开关管关闭瞬间产生的冲击电流抵消,之后对与第二行开关管连接的光电二极管中的光生电荷进行采集;依次在打开当前行开关管的同时关闭上一行开关管,在开关管打开和关闭瞬间产生的冲击电流抵消后采集与当前行开关管相连的光电二极管内的光生电荷。本发明的基于行间重叠的电荷补偿方法消除了暗场和小剂量下的零值问题,提高了帧率、动态范围,减少耦合时间窗口、行扫描时间以及噪声。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 行间 重叠 电荷 补偿 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于行间重叠的电荷补偿方法,用于非晶硅TFT阵列,其特征在于,所述基于行间重叠的电荷补偿方法至少包括:打开所述非晶硅TFT阵列的第一行开关管,所述非晶硅TFT阵列的第一行为假像元行;打开所述非晶硅TFT阵列的第二行开关管的同时关闭第一行开关管,第二行开关管打开瞬间产生的冲击电流与第一行开关管关闭瞬间产生的冲击电流抵消,之后对与第二行开关管连接的光电二极管中的光生电荷进行采集;依次在打开当前行开关管的同时关闭上一行开关管,在开关管打开和关闭瞬间产生的冲击电流抵消后采集与当前行开关管相连的光电二极管内的光生电荷。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的