[发明专利]一种基于全局二值化的CT图像分辨率自动测试方法在审

专利信息
申请号: 201511009329.5 申请日: 2015-12-29
公开(公告)号: CN105631876A 公开(公告)日: 2016-06-01
发明(设计)人: 郭智敏;齐子诚;倪培君;乔日东;张维国;唐盛明;王晓艳;郑颖;左欣;李岩 申请(专利权)人: 中国兵器科学研究院宁波分院
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 宁波诚源专利事务所有限公司 33102 代理人: 袁忠卫;徐芙姗
地址: 315103 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种基于全局二值化的CT图像分辨率自动测试方法,包括采用圆盘标准试件进行测试,获取圆盘标准试件的CT图像;对CT图像进行自动阈值分割的全局二值化处理,并且在全局二值化处理后的CT图像中找圆盘标准试件的圆心以及圆盘轮廓线,并且计算圆盘的半径。根据中找出的圆盘标准时间的圆心以及圆盘轮廓线和半径,计算CT图像的密度分辨率和空间分辨率。该基于全局二值化的CT图像分辨率自动测试方法,在图像的中心和轮廓的确定计算中利用全局二值化后的CT图像,使得圆心、半径和轮廓的确定更加准确,进而使得分辨率的测试也更加准确。
搜索关键词: 一种 基于 全局 二值化 ct 图像 分辨率 自动 测试 方法
【主权项】:
一种基于全局二值化的CT图像分辨率自动测试方法,包括采用圆盘标准试件进行测试,其特征在于:包括以下步骤:1)获取圆盘标准试件的CT图像;2)对CT图像进行自动阈值分割的全局二值化处理,并且在全局二值化处理后的CT图像中找圆盘标准试件的圆心以及圆盘轮廓线,并且计算圆盘的半径。3)根据步骤2)中找出的圆盘标准试件的圆心以及圆盘轮廓线和半径,计算CT图像的密度分辨率和空间分辨率。
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