[发明专利]一种使用单像素探测器的物体三维形貌测量方法和装置在审
| 申请号： | 201511010001.5 | 申请日： | 2015-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN105627952A | 公开（公告）日： | 2016-06-01 |
| 发明（设计）人： | 钟金钢;张子邦 | 申请（专利权）人： | 暨南大学 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 廖继海 |
| 地址： | 510630 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种使用单像素探测器的物体三维形貌测量方法和装置。结构光场发生器生成一系列余弦分布照明光场，经照明透镜组依次照明目标物体；成像透镜组将被照明的目标物体成像到平面栅状器件上，形成被平面栅状器件调制的目标物体图像；单像素探测器依次按不同的照明光场，接收被调制的目标物体图像的光信号，并依次输出电信号响应值，利用一系列电信号响应值，计算得出被调制的目标物体图像的傅立叶谱一级分量 |
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| 搜索关键词： | 一种 使用 像素 探测器 物体 三维 形貌 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
一种使用单像素探测器的物体三维形貌测量方法，其特征在于：结构光场发生器生成一系列频率不同、初相位不同的余弦分布照明光场，经照明透镜组依次照明目标物体；成像透镜组将被照明的目标物体成像到平面栅状器件上，形成被平面栅状器件调制的目标物体图像；单像素探测器依次按不同的照明光场，接收被调制的目标物体图像的光信号，并依次输出电信号响应值，一个照明光场对应一个电信号响应值；利用一系列电信号响应值，计算得出被调制的目标物体图像的傅立叶谱一级分量![]()
通过![]()
计算得到目标物体图像的调制相位分布，与基准平面处平板图像的调制相位分布做差值运算得到相位差分布![]()
再利用相位差与高度的对应关系，得到待测目标物体表面形貌的高度分布h(x,y)测量值。
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