[发明专利]速调管谐振腔特性参数的确定方法

摘要

本发明公开了速调管谐振腔特性参数的确定方法。在速调管谐振腔特性参数的确定方法中，速调管谐振腔特性参数包括所述谐振腔腔体的谐振频率和谐振腔的品质因数，该方法包括以下步骤群时延曲线测量步骤，测量谐振腔的群时延曲线，以确定所述谐振腔腔体的谐振频率和耦合状态；驻波比曲线测量步骤，测量谐振腔的驻波比曲线；以及特性参数确定步骤，根据对驻波比曲线的测量结果以及所述谐振腔腔体的谐振频率和耦合状态，确定谐振腔的品质因数。本发明对过耦合和欠耦合的谐振腔均能适用，有效克服了现有技术中群时延曲线仅对过耦合谐振腔有意义的缺点，可用于速调管高损耗谐振腔特性参数的确定和优化。

主权项

一种速调管谐振腔特性参数的确定方法，其特征在于，速调管谐振腔特性参数包括所述谐振腔腔体的谐振频率和谐振腔的品质因数，所述方法包括以下步骤：群时延曲线测量步骤，在该步骤中，测量谐振腔的群时延曲线，以确定所述谐振腔腔体的谐振频率和耦合状态；驻波比曲线测量步骤，在该步骤中，测量谐振腔的驻波比曲线；以及特性参数确定步骤，在该步骤中，根据对驻波比曲线的测量结果以及所述谐振腔腔体的谐振频率和耦合状态，确定谐振腔的品质因数；其中，谐振腔的品质因数包括谐振腔固有品质因数Q0，其中，在群时延曲线测量步骤中，记录群时延曲线的峰值处的横坐标f0作为谐振腔腔体的谐振频率，并将谐振腔腔体的耦合状态记为β，并且当群时延曲线具有正峰时表明谐振腔腔体过耦合，即β>1；当群时延曲线具有负峰时表明谐振腔腔体欠耦合，即β<1，其中，所述驻波比曲线测量步骤包括：确定驻波最小点S0，驻波最小点S0与谐振腔腔体的谐振频率f0相对应；在驻波比曲线上，在驻波最小点S0上方选定驻波比为Sx的水平线，驻波比为Sx的水平线与驻波比曲线相交于频率分别为f1和f2的两点，且满足关系f1<f0<f2；其中，所述特性参数确定步骤包括按下式计算谐振腔固有品质因数Q0：Q0=(βSx-1)(Sx-β)Sx·f0Δf]]>其中，Δf＝f2‑f1；在β>1时β＝S0，在β<1时β＝1/S0。