[发明专利]非接触式静力触探深度测量装置及其应用方法在审
| 申请号： | 201511015615.2 | 申请日： | 2015-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN105625290A | 公开（公告）日： | 2016-06-01 |
| 发明（设计）人： | 杨石飞;苏辉;刘枫 | 申请（专利权）人： | 上海岩土工程勘察设计研究院有限公司 |
| 主分类号： | E02D1/00 | 分类号： | E02D1/00 |
| 代理公司： | 上海申蒙商标专利代理有限公司 31214 | 代理人： | 徐小蓉 |
| 地址： | 200032 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及岩土勘探领域，尤其是非接触式静力触探深度测量装置及其应用方法，其特征在于：所述测量装置至少包括测距仪、固定支架和信号处理器，所述测距仪通过所述固定支架与静力触探机相连接固定，所述信号处理器接收处理所述测距仪的测距信号。本发明的优点是：能实现非接触式的静力触探探杆贯入深度的测量；可靠性和精度高，结构简单，便于安装；造价较低，推广便利。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 静力 深度 测量 装置 及其 应用 方法 | ||
【主权项】：
一种非接触式静力触探深度测量装置，用于测量静力触探探杆的贯入深度，其特征在于：所述测量装置至少包括测距仪、固定支架和信号处理器，所述测距仪通过所述固定支架与静力触探机相连接固定，所述信号处理器接收处理所述测距仪的测距信号。
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