[发明专利]Si/GeTe纳米复合多层相变薄膜、相变存储器及其制备方法有效
申请号: | 201511015761.5 | 申请日: | 2015-12-29 |
公开(公告)号: | CN106935701B | 公开(公告)日: | 2019-03-22 |
发明(设计)人: | 汪昌州;刘东方;张伟;杨康 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海高等研究院 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 余明伟 |
地址: | 201210 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种Si/GeTe纳米复合多层相变薄膜、相变存储器及其制备方法,所述Si/GeTe纳米复合多层相变薄膜包括Si薄膜及GeTe薄膜,所述Si薄膜与所述GeTe薄膜交替排列形成多层薄膜结构。通过磁控交替溅射方法将相变材料GeTe和非相变材料Si在纳米量级进行复合形成多层相变薄膜结构,由于热稳定性的Si材料存在,Si/GeTe纳米复合多层薄膜能有效的提高相变薄膜材料的结晶温度,拓宽了相变材料的温度适用范围。随着周期单元中Si层厚度的增加,纳米复合多层薄膜的结晶温度也随之增加,因此,可以通过对Si层和GeTe层厚度比的调控,调节Si/GeTe纳米复合多层薄膜的结晶温度,从而达到改善相变薄膜热稳定性的目的。 | ||
搜索关键词: | si gete 纳米 复合 多层 相变 薄膜 存储器 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种Si/GeTe纳米复合多层相变薄膜,其特征在于,所述Si/GeTe纳米复合多层相变薄膜包括Si薄膜及GeTe薄膜,所述Si薄膜与所述GeTe薄膜交替排列形成多层薄膜结构。
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