[发明专利]Si/GeTe纳米复合多层相变薄膜、相变存储器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201511015761.5 申请日: 2015-12-29
公开(公告)号: CN106935701B 公开(公告)日: 2019-03-22
发明(设计)人: 汪昌州;刘东方;张伟;杨康 申请(专利权)人: 中国科学院上海高等研究院
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 余明伟
地址: 201210 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种Si/GeTe纳米复合多层相变薄膜、相变存储器及其制备方法,所述Si/GeTe纳米复合多层相变薄膜包括Si薄膜及GeTe薄膜,所述Si薄膜与所述GeTe薄膜交替排列形成多层薄膜结构。通过磁控交替溅射方法将相变材料GeTe和非相变材料Si在纳米量级进行复合形成多层相变薄膜结构,由于热稳定性的Si材料存在,Si/GeTe纳米复合多层薄膜能有效的提高相变薄膜材料的结晶温度,拓宽了相变材料的温度适用范围。随着周期单元中Si层厚度的增加,纳米复合多层薄膜的结晶温度也随之增加,因此,可以通过对Si层和GeTe层厚度比的调控,调节Si/GeTe纳米复合多层薄膜的结晶温度,从而达到改善相变薄膜热稳定性的目的。
搜索关键词: si gete 纳米 复合 多层 相变 薄膜 存储器 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种Si/GeTe纳米复合多层相变薄膜,其特征在于,所述Si/GeTe纳米复合多层相变薄膜包括Si薄膜及GeTe薄膜,所述Si薄膜与所述GeTe薄膜交替排列形成多层薄膜结构。
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