[发明专利]一种基于Labview控制SPR数据采集分析方法在审
| 申请号： | 201511017431.X | 申请日： | 2015-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN105758826A | 公开（公告）日： | 2016-07-13 |
| 发明（设计）人： | 郝红霞;李志辉 | 申请（专利权）人： | 中国政法大学 |
| 主分类号： | G01N21/552 | 分类号： | G01N21/552 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人： | 孙皓晨;陈士骞 |
| 地址： | 100088 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于Labview控制SPR(表面等离子体波共振)数据采集分析方法，根据所设置的角度扫描范围，通过上位机指令控制伺服电机的转动对目标物的反射光角度的改变来进行粗扫描，并根据扫描得到的数据自动计算曲线拐点和共振峰位置；根据计算得到的曲线拐点和共振峰位置，自动设置细扫描的位置和最优细扫描参数，控制伺服电机在曲线特征区间段小角度转动，对目标物的反射光角度的改变来进行细扫描；根据细扫描得到的数据，自动计算SPR曲线图特征，包括共振角、共振半峰宽度和共振深度；根据得到的曲线拐点、共振峰位置、共振角、共振半峰宽度和共振深度进行SPR曲线拟合，得到完整的SPR曲线。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 labview 控制 spr 数据 采集 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种基于Labview控制SPR数据采集分析方法，其特征在于，包括以下步骤：根据所设置的角度扫描范围，通过上位机指令控制伺服电机的转动对目标物的反射角度的改变来进行粗扫描，并根据扫描得到的数据自动计算曲线拐点和共振峰位置；根据计算得到的拐点和共振峰位置，自动设置细扫描的位置和细扫描参数，通过上位机指令控制伺服电机的转动对目标物的反射角度的改变来进行细扫描；根据细扫描得到的数据，自动计算SPR曲线图特征，包括共振角、共振半峰宽度和共振深度；根据得到的曲线拐点、共振峰位置、共振角、共振半峰宽度和共振深度进行SPR曲线拟合，得到完整的SPR曲线。
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