[发明专利]基于测试框架系统的测试方法、装置和测试框架系统在审
| 申请号： | 201511018589.9 | 申请日： | 2015-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN106933730A | 公开（公告）日： | 2017-07-07 |
| 发明（设计）人： | 张东雪;赵阳;陈方淦 | 申请（专利权）人： | 北京国睿中数科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 | 代理人： | 张大威 |
| 地址： | 100085 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于测试框架系统的测试方法、装置和测试框架系统，其中，该方法包括以下步骤为用户提供多种测试环境，根据用户的操作确定目标测试环境；接收用户编写的测试代码；基于目标测试环境对测试代码进行编译，并生成与目标测试环境相关的测试文件；在目标测试环境中运行测试文件，并生成测试结果；以及为用户提供测试结果。因此，本发明实施例提供的基于测试框架系统的测试方法、装置和测试框架系统，为用户提供了多种测试环境，使得用户可根据需求自由选择测试环境，方便了用户在同一个测试框架下完成在多种测试环境下的测试，方便了测试人员进行测试，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 测试 框架 系统 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种基于测试框架系统的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：为用户提供多种测试环境，根据所述用户的操作确定目标测试环境；接收所述用户编写的测试代码；基于所述目标测试环境对所述测试代码进行编译，并生成与所述目标测试环境相关的测试文件；在所述目标测试环境中运行所述测试文件，并生成测试结果；以及为所述用户提供测试结果。
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