[发明专利]基于X射线的工业部件缺陷的无损检测系统及其检测方法

摘要

本发明公开了一种基于X射线的工业部件缺陷的无损检测系统，包括：X射线成像设备，其接收穿透待检工业部件的X射线，所述X射线成像设备设置有相互连接的信号探测部件和成像部件；图像增强部件，其实时接收所述X射线成像设备生成的原始图像信号，并对所述原始图像信号进行信号加强处理后得到增强图像信号；图像采集卡，其与所述图像增强部件连接；以及图像工作站，其设置有相互连接的缓冲部和缺陷识别部，所述图像采集卡将采集到的所述增强图像信号传送到所述缓冲部。本发明解决了现有技术中缺陷探测效率低下、可重复性差、且极易出现差错的技术问题。

主权项

1.一种基于X射线的工业部件缺陷的无损检测系统进行检测的方法，其特征在于，包括：X射线成像设备，其接收穿透待检工业部件的X射线，所述X射线成像设备设置有相互连接的信号探测部件和成像部件；图像增强部件，其实时接收所述X射线成像设备生成的原始图像信号，并对所述原始图像信号进行基于算法的信号加强处理后得到增强图像信号；图像采集卡，其与所述图像增强部件连接；以及图像工作站，其设置有相互连接的缓冲部和缺陷识别部，所述图像采集卡将采集到的所述增强图像信号传送到所述缓冲部；其中，基于X射线的工业部件缺陷的无损检测系统的检测方法，包括以下步骤：步骤1)用X射线发射器探照待检工业部件，信号探测部件实时接收穿透待检工业部件的X射线，在成像部件中生成原始图像信号；步骤2)图像增强部件实时接收所述原始图像信号，得到灰度图像，并进行图像预处理；对预处理后的图像进行多尺度处理，得到原始图像在不同尺度下的下采样图像，构造灰度图像中每个像素位置的多尺度相似函数，计算每个像素对应的相似函数在多尺度因子中的最大输出响应，得到增强图像信号；步骤3)图像采集卡实时采集所述增强图像信号，并传送到图像工作站的缓冲部，由图像工作站将增强图像信号显示在显示器上；步骤4)根据增强图像信号构造待检工业部件中缺陷在灰度图像中的轮廓曲线，进行缺陷区域的初定位；根据所述轮廓曲线构造带符号的距离函数，求解每个像素对缺陷轮廓曲线的最近距离；步骤5)根据所述距离函数，构造图像中缺陷的混合能量函数，最大化已构造的混合能量函数，并计算所述距离函数对时间的偏微分方程，得到缺陷所在区域在图像中的分割曲线Cf，完成区域识别；步骤6)图像融合和缺陷位置判定。