[发明专利]基于iOS系统的图层像素对齐检测方法在审

专利信息
申请号: 201511020789.8 申请日: 2015-12-30
公开(公告)号: CN106569792A 公开(公告)日: 2017-04-19
发明(设计)人: 刘盛祥;杨虎;彭伟刚;顾思斌;潘柏宇;王冀 申请(专利权)人: 合一网络技术(北京)有限公司
主分类号: G06F9/44 分类号: G06F9/44
代理公司: 北京庆峰财智知识产权代理事务所(普通合伙)11417 代理人: 李文军
地址: 100080 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及移动终端领域,特别是一种基于iOS系统的图层像素对齐检测方法,该方法包括获取窗口根图层,从根图层开始遍历窗口内的所有图层,采用图层像素对齐判定方法对每个图层进行像素对齐判定,并在所有图层判定完成后,反馈判定结果;该图层像素对齐判定方法包括S1、获取图层相对于其所在窗口的坐标(x,y);S2、计算该图层的像素点定位参考值Vx和Vy,S3、判断Vx和Vy是否都约等于整数,若是,则判定该图层相对于窗口像素对齐,若否,则判定该图层相对于窗口像素未对齐。本发明方法不仅能够自动检测图层像素是否对齐,还能进一步明确图层像素未对齐的问题是出自该图层本身还是上一级图层,从而定位问题根源,为后期图层调整提供便利。
搜索关键词: 基于 ios 系统 像素 对齐 检测 方法
【主权项】:
一种基于iOS系统的图层像素对齐判定方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:S1、获取图层相对于其所在窗口的坐标(x,y);S2、计算该图层的像素点定位参考值Vx和Vy,其中Vx=x×scale,Vy=y×scale,scale表示窗口所在屏幕的屏幕倍率;S3、判断Vx和Vy是否都约等于整数,若是,则判定该图层相对于窗口像素对齐,若否,则判定该图层相对于窗口像素未对齐。
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