[发明专利]一种双直纹面地质体的构建方法有效

专利信息
申请号: 201511023485.7 申请日: 2015-12-30
公开(公告)号: CN105551085B 公开(公告)日: 2019-02-19
发明(设计)人: 张淑清;姜春雷;陈祥葱;张俊岩;张策;朱晓东 申请(专利权)人: 中国科学院东北地理与农业生态研究所
主分类号: G06T17/10 分类号: G06T17/10;G06T17/05
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 杨立超
地址: 150081 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种双直纹面地质体的构建方法,本发明涉及双直纹面地质体的构建方法。本发明的目的是为了解决现有三角形面片、四面体、三棱柱或直角六面体模拟地形存在的问题。具体过程为:步骤一、确立空间网格单元尺寸;步骤二、构建双直纹面,根据空间网格单元尺寸,计算每个双直纹面四个顶点坐标,然后根据每个双直纹面四个顶点坐标计算每个双直纹面的直纹线;步骤三、根据双直纹面构造六面体。本发明应用于地质体研究领域。
搜索关键词: 一种 双直纹面 质体 构建 方法
【主权项】:
1.一种双直纹面地质体的构建方法,其特征在于一种双直纹面地质体的构建方法具体是按照以下步骤进行的:步骤一、确立空间网格单元尺寸;步骤二、构建双直纹面,根据空间网格单元尺寸,计算每个双直纹面四个顶点坐标,然后根据每个双直纹面四个顶点坐标计算每个双直纹面的直纹线;步骤三、根据双直纹面构造六面体;所述步骤一中确立空间网格单元尺寸;具体过程为:通过计算双直纹面精度中误差确立空间网格单元尺寸,计算双直纹面精度中误差过程如下:步骤一一、确定双直纹面中n个实测检验点,检验点要求均匀分布,n为正整数;步骤一二、计算双直纹面中检验点值;步骤一三、计算差值Δ,通过中误差计算公式计算中误差;步骤一四、判断中误差是否符合要求;如果符合要求则选用该网格;如果不符合,则缩小网格大小,重新构建并计算;要求为人为设置。
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