[发明专利]一种石膏原料中硫酸钙晶体相变点的检测方法有效
| 申请号： | 201511025770.2 | 申请日： | 2015-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN105606639B | 公开（公告）日： | 2019-09-17 |
| 发明（设计）人： | 曹志强;段广明;冯富玲;葛绪英;杨迪;郭超 | 申请（专利权）人： | 泰山石膏有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/02 | 分类号： | G01N25/02 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 赵青朵 |
| 地址： | 271026*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种石膏原料中硫酸钙晶体相变点的检测方法，包括以下步骤：a)将石膏原料粉磨过筛后，进行干燥，得到石膏粉；b)采用卤素水分测定仪在逐级提高的温度点下分别对上述石膏粉进行烘制，根据烘制前后石膏粉在不同温度点的质量变化进行计算，得到石膏原料中硫酸钙晶体相变点；所述逐级提高的温度点的最低温度为55℃～65℃，最高温度为175℃～185℃，相邻温度差为5℃～11℃。本发明提供的检测方法首先除去石膏原料中全部的游离水，得到石膏粉；再采用卤素水分测定仪进行烘制，得到上述石膏粉在不同温度烘制后的质量变化，进而得到石膏原料中硫酸钙晶体相变点，检测方法操作简单、周期短，同时受检测环境影响小，重现性好。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 石膏 原料 硫酸钙 晶体 相变 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种石膏原料中硫酸钙晶体相变点的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：a)将石膏原料粉磨过筛后，进行干燥，得到石膏粉；所述石膏原料为脱硫石膏或磷石膏；所述粉磨过筛的筛孔尺寸为10目～20目；所述干燥的温度为42℃～48℃，时间为1h～3h；b)采用卤素水分测定仪在逐级提高的温度点下分别对6g上述石膏粉进行烘制，根据烘制前后石膏粉在不同温度点的质量变化进行计算，得到石膏原料中硫酸钙晶体相变点；所述逐级提高的温度点具体为：60℃，70℃，80℃，90℃，100℃，110℃，120℃，130℃，140℃，150℃，160℃，170℃，180℃；所述烘制的时间为10min；所述计算的过程具体为：根据烘制前后石膏粉在不同温度点的质量变化，得到石膏原料中硫酸钙晶体的三相含量；再根据不同温度下的三相含量得到石膏原料中硫酸钙晶体的相变点。
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