[发明专利]半导体成膜设备、衬底自动定位卡紧结构及卡紧方法有效
申请号: | 201511028800.5 | 申请日: | 2015-12-31 |
公开(公告)号: | CN105470176B | 公开(公告)日: | 2018-08-10 |
发明(设计)人: | 王勇飞;兰云峰 | 申请(专利权)人: | 北京北方华创微电子装备有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/687 |
代理公司: | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人: | 陶金龙;张磊 |
地址: | 100176 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种半导体成膜设备、半导体衬底的自动定位卡紧结构及卡紧方法,包括M个定位卡紧结构,其与所述基座同轴心地环形分布在所述基座上表面的周围,用于在工艺过程中卡紧衬底;其中,M为大于等于3的整数;所述定位卡紧结构包括:贯穿所述基座的定位孔洞;自定位卡紧支架,所述定位卡紧支架包括相互垂直固定的圆柱形支杆和横杆,以及位于所述基座下方的支座;所述横杆位于所述支杆的顶部,所述横杆的一端朝向轴心,另一端远离轴心;所述远离轴心的外端包括高出横杆上表面的定位台阶和凹入定位台阶内侧的卡紧锐角卡槽;所述支杆穿过所述定位孔洞,其球面底部与所述支座相抵接,且所述圆柱形支杆上与所述定位台阶同侧处具有切面。 | ||
搜索关键词: | 半导体 设备 衬底 自动 定位 结构 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体成膜设备,包括反应腔室和承载衬底的基座,所述基座具有支撑轴;其特征在于,还包括M个定位卡紧结构,所述M个定位卡紧结构与所述基座同轴心地环形分布在所述基座上表面的周围,用于在工艺过程中卡紧所述衬底;其中,M为大于或等于3的整数;所述定位卡紧结构包括:贯穿所述基座的定位孔洞;自定位卡紧支架,所述定位卡紧支架包括相互垂直固定的圆柱形支杆和横杆,以及位于所述基座下方的支座;所述横杆位于所述支杆的顶部,所述横杆的一端朝向支杆的轴心,另一端远离支杆的轴心;所述远离支杆轴心的外端包括高出横杆上表面的定位台阶和凹入定位台阶内侧的卡紧锐角卡槽;所述支杆穿过所述定位孔洞,其球面底部与所述支座相抵接,且所述支杆靠近所述定位台阶的一侧具有切面,在沿所述横杆的延伸方向上,该切面使得所述支架靠近底部的长度小于靠近顶部的长度;其中,当没有加载所述衬底时,所述M个横杆外端在自身重心的作用下朝下倾斜一个预定角度;当所述衬底下表面与所述定位卡紧支架上的横杆接触后,所述M个横杆外端在所述定位卡紧支架与所述衬底组成的配合体重心的作用下,以所述球面为支点且通过所述切面导向,向上抬升至水平位置,以使所述衬底卡紧在所述卡紧锐角卡槽中。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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