[发明专利]BSL 3D DIC系统中双棱镜缺陷误差的修正方法在审

专利信息
申请号: 201511029855.8 申请日: 2015-12-31
公开(公告)号: CN105423942A 公开(公告)日: 2016-03-23
发明(设计)人: 谢惠民;吴立夫;朱建国;周幪幪 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 张大威
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提出一种BSL 3D DIC系统中双棱镜缺陷误差的修正方法,包括:将标定板放置在测量系统的视场内,调整其位置和姿态,采集标定板的错位图像,其中,测量系统包括双棱镜、双远心镜头及一台CMOS相机;从测量系统中移除双棱镜;采集直接观测标定板时的图像;根据标定板的错位图像和直接观测时的图像计算错位前后对应角点的像素坐标;根据直接观测时角点的像素坐标进行镜头畸变标定及修正;构建最小二乘函数,并根据最小二乘函数利用错位前后对应角点的像素坐标对双棱镜主方向角进行标定;将标定结果输入修正数学模型以对双棱镜缺陷误差进行修正。本发明能够对BSL 3D DIC系统中双棱镜误差进行修正,提高系统的测量准确度。
搜索关键词: bsl dic 系统 棱镜 缺陷 误差 修正 方法
【主权项】:
一种BSL 3D DIC系统中双棱镜缺陷误差的修正方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:构建测量系统,并将标定板放置在所述测量系统的视场内,并调整所述标定板的位置和姿态直至所述标定板成像清晰,并采集所述标定板的错位图像,其中,所述测量系统包括双棱镜、双远心镜头和一台CMOS相机;S2:从所述测量系统中移除所述双棱镜;S3:采集直接观测所述标定板时的图像;S4:根据所述标定板的错位图像和直接观测所述标定板时的图像计算错位前后对应角点的像素坐标;S5:根据直接观测所述标定板时角点的像素坐标进行镜头畸变标定及修正;S6:构建最小二乘函数,并根据所述最小二乘函数利用错位前后对应角点的像素坐标对双棱镜主方向角进行标定;以及S7:构建修正数学模型,将双棱镜主方向角的标定结果输入所述修正数学模型以对双棱镜缺陷误差进行修正。
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