[发明专利]一种基于分级位线结构的SRAM半选干扰消除结构有效

专利信息
申请号: 201511030520.8 申请日: 2015-12-31
公开(公告)号: CN105702281B 公开(公告)日: 2018-07-17
发明(设计)人: 耿莉;张杰;薛仲明;董力;商中夏;李广林 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G11C11/412 分类号: G11C11/412
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 徐文权
地址: 710049 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开一种基于分级位线结构的SRAM半选干扰消除结构,包括存储阵列;所述存储阵列为分级位线结构;存储阵列中的存储单元具有单独的读操作支路;存储阵列中的每一列划分为若干个子模块。本发明采用虚拟地线控制,将子模块中各存储单元的读操作支路的地线单独引出,通过地线控制开关统一接入实际地线,并由子模块对应列的列选信号Col控制各地线控制开关的导通状态,切断了读操作时未选中列单元其位线放电通路,从而完全消除了由于半选干扰而导致的静态功耗消耗;而通过局部位线悬浮技术的采用,则在写操作时迫使未选中列局部位线浮空,从而消除了短路放电路径,并且有效地减小了局部位线对半选单元的干扰,使得单元鲁棒性提升,噪声容限增大。
搜索关键词: 分级位线结构 存储阵列 读操作 地线 支路 存储单元 干扰消除 局部位线 选中 导通状态 放电路径 放电通路 静态功耗 列选信号 虚拟地线 悬浮技术 噪声容限 短路 列单元 鲁棒性 线控制 写操作 有效地 子模块 浮空 减小 位线 存储 消耗 统一
【主权项】:
1.一种基于分级位线结构的SRAM半选干扰消除结构,其特征在于,包括存储阵列;所述存储阵列为分级位线结构,将每列单元划分成若干个子模块;存储阵列中的存储单元采用8T‑SRAM结构,具有单独的读支路;子模块中各存储单元的读操作支路的地线单独引出,通过地线控制开关统一接入实际地线,并由子模块对应列的列选信号Col控制各地线控制开关的导通状态;子模块中还包括有局部灵敏放大器LSA;局部灵敏放大器LSA的正/反输出端通过两个输出缓冲器连接子模块的局部位线,局部灵敏放大器LSA的正/反输入端通过两个传输门连接全局位线;输出缓冲器包括反相器链、末级反相器、预充P管、控制开关和PC2MOS反相器;预充P管连接反相器链的输入端,反相器链的输出端连接末级反相器的输入端和PC2MOS反相器的输入端,末级反相器的输出端通过控制开关连接局部位线,PC2MOS反相器的输出端连接局部位线;控制开关由读写控制信号WEN控制,WEN为高电平时,SRAM进入写操作;预充P管的局部灵敏放大器的使能信号为LsEN,LsEN受列选信号和写字线信号共同控制,对于非选中列,LsEN始终保持低电平;PC2MOS反相器的控制信号CTL由列选信号Col生成,存储列非选中时,CTL为高电平。
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