[发明专利]存储器单元失效检测方法与系统

摘要

本发明提供一种存储器单元失效检测方法与系统，将存储器单元中每一位设为初始数码，并读出存储器单元中每一位的内容，将存储器单元中每一位的内容从初始数码修改为变反数码，当其他存储器单元中每一位的内容未发生改变时，读出存储器单元中每一位的内容，检测存储器单元中每一位的内容是否修改准确，当修改准确时，再次将存储器单元中每一位的内容修改，再次检测存储器单元中每一位的内容是否修改准确，当修改准确时，表明存储器单元正常。整个过程，能够检测可能发生的存储器单元转换故障以及对周边存储器单元数据操作引发的单个存储器单元的耦合故障，能够准确检测存储器单元是否失效。

主权项

1.一种存储器单元失效检测方法，其特征在于，包括步骤：将当前存储器单元中每一位设为初始数码，并读出所述当前存储器单元中每一位的内容，若所述当前存储器单元中均为所述初始数码，则表明所述当前存储器单元未失效，若所述当前存储器单元中某位内容不为所述初始数码，则表明所述当前存储器单元已失效；将所述当前存储器单元中每一位的内容从所述初始数码修改为变反数码；检测其他存储器单元中每一位的内容是否发生改变，当发生改变时，表明所述当前存储器单元已失效，当未发生改变时，读出所述当前存储器单元中每一位的内容，所述其他存储器单元为所述当前存储器单元相邻的存储器单元；检测所述当前存储器单元中每一位的内容是否修改准确，当修改不准确时，表明所述当前存储器单元已经失效，当修改准确时，将所述当前存储器单元中每一位的内容由所述变反数码修改为初始数码，再次检测所述当前存储器单元中每一位的内容是否修改准确，当修改不准确时，表明所述当前存储器单元已经失效，当修改准确时，表明所述当前存储器单元正常；其中，所述初始数码和所述变反数码分别包括二进制中两个不同的数码。