[发明专利]一种以GaN为界面层的GaAs沟道MOS界面结构在审

专利信息
申请号: 201511032304.7 申请日: 2015-12-30
公开(公告)号: CN105576031A 公开(公告)日: 2016-05-11
发明(设计)人: 刘丽蓉;马莉;夏校军 申请(专利权)人: 东莞市青麦田数码科技有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/10;H01L29/06;H01L29/12;H01L29/20
代理公司: 广东莞信律师事务所 44332 代理人: 吴炳贤
地址: 523000 广东省东莞市东城*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种以GaN为界面层的GaAs沟道MOS界面结构,该结构自上而下依次是:一半绝缘单晶砷化镓衬底(101);一在该砷化镓单晶衬底层(101)上形成的砷化镓沟道层(102);一在该N型掺杂的砷化镓沟道层(102)上形成的界面控制层GaN(103);一在该界面控制层GaN(103)上形成的界面过渡层AlN(104);一在该界面过渡层AlN(104)上形成的高K介质层(105);以及一在该高K栅介质(105)上形成的金属栅结构(106)。
搜索关键词: 一种 gan 界面 gaas 沟道 mos 结构
【主权项】:
一种以GaN为界面层的GaAs沟道MOS界面结构,其特征在于,该结构自下而上依次包括:一半绝缘单晶砷化镓衬底(101);一在该砷化镓单晶衬底层(101)上形成的砷化镓沟道层(102);一在该砷化镓沟道层(102)上形成的GaN界面控制层(103);一在该GaN界面控制层(103)上形成的AlN界面过渡层(104);一在该AlN界面过渡层(104)上形成的Al2O3高K介质层(105);以及一在该Al2O3高K栅介质(105)上形成的钨金属栅层(106)。
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