[发明专利]一种基于透视投影直线测量模型的双目匹配方法及其应用在审
| 申请号： | 201511033688.4 | 申请日： | 2015-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN105444696A | 公开（公告）日： | 2016-03-30 |
| 发明（设计）人： | 王鹏;史瑞泽;孙长库 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G06T7/00 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 叶青 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于透视投影直线测量模型的双目匹配方法，包括如下步骤，第一，选取空间中的一点P在左右图像中的坐标分别(ul,vl)，(ur,vr)；通过已经标定的参数可以获得其在标定面a上对应的传感器坐标点A，B，第二，垂直于靶标方向平移一定距离后，确定P点在左右图像在另一个标定面b上对应的点A',B',该方法可以实现双目测量中左右相机对应标记点快速、方便、高精度的匹配，克服现有技术中双目的匹配方法中标定较为复杂，存在误匹配的情况，实现传感器获取的物体表面点云数据高精度和有效地拼接。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 透视 投影 直线 测量 模型 双目 匹配 方法 及其 应用 | ||
【主权项】：
一种基于透视投影直线测量模型的双目匹配方法，其特征在于，包括如下步骤：第一，选取空间中的一点P在左右图像中的坐标分别(ul,vl)，(ur,vr)；通过已经标定的参数可以获得其在标定面a上对应的传感器坐标点A，B，第二，垂直于靶标方向平移一定距离后，确定P点在左右图像在另一个标定面b上对应的点A',B',第三，通过左图中的参考标记点的像素坐标确定空间透视投影直线A A'，并在右图中遍历图像中的标记点的像素(uri,vri)坐标及其透视投影线BiBi'，寻找与A A'所确定的公垂线最短的透视投影线BB'，完成左右图像中标记点的匹配。
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