[发明专利]用于确定介质的吸收特性的方法、装置和传感器有效
| 申请号： | 201511036276.6 | 申请日： | 2015-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN105823732B | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | I·兰斯泰纳 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 李雪莹;宣力伟 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于确定介质(114)的吸收特性的方法(200)。该方法(200)具有求取步骤(202)：在使用第一强度值(110)和至少一个第二强度值(110)以及第一测量距离(112)和第二测量距离(112)之间的长度差(130)的情况下求取所述介质(114)的吸收系数(136)。其中所述第一强度值(110)代表在所述介质(114)中穿过第一测量距离(112)后测得的第一光强度。所述第二强度值(110)代表在所述介质(114)中穿过第二测量距离(112)后测得的第二光强度。在使用具有共同的输出强度的光线(108)的情况下测量所述第一强度值(110)和所述第二强度值(110)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 介质 吸收 特性 方法 装置 传感器 | ||
【主权项】：
用于确定介质(114)的吸收特性的方法(200)，其中所述方法(200)具有以下步骤：在使用第一强度值(110)和至少一个第二强度值(110)以及第一测量距离(112)和第二测量距离(112)之间的长度差(130)的情况下，求取(202)所述介质(114)的吸收系数(136)，其中所述第一强度值(110)代表在所述介质(114)中穿过第一测量距离(112)后测得的第一光强度，并且所述第二强度值(110)代表在所述介质(114)中穿过第二测量距离(112)后测得的第二光强度，其中在使用具有共同的输出强度的光线(108)的情况下测量所述第一强度值(110)和所述第二强度值(110)。
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