[实用新型]一种激光光束质量检测分析平台有效

专利信息
申请号: 201520009959.1 申请日: 2015-01-08
公开(公告)号: CN204330142U 公开(公告)日: 2015-05-13
发明(设计)人: 董彪;谭佐军;杨欢;李俊霖 申请(专利权)人: 武汉天之逸科技有限公司
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00
代理公司: 北京恒都律师事务所 11395 代理人: 李向东
地址: 430070 湖北省武汉市东湖新技术开发区武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 实用新型公开了一种激光光束质量检测分析平台,涉及激光数据检测设备领域,该激光光束质量检测分析平台是专门针对激光教学实训设备的数据检测分析研发的,由于产品本身是脱离激光加工整机设备的独立光学检测分析系统,可以对大多数激光教学实训设备及工业级激光加工设备的激光光路质量进行检测及数据分析,尤其是对激光平均功率、激光单脉冲能量、激光光斑外形、光束发散角的检测,产品上所用的光学采集探头可根据激光设备的具体构造进行随意装配,达到不受结构限制进行光学采集的目的。
搜索关键词: 一种 激光 光束 质量 检测 分析 平台
【主权项】:
一种激光光束质量检测分析平台,包括光学安装底板,其特征在于:所述激光光束质量检测分析平台包括矩安装在光学安装底板上的工控计算机和光学数据接收计算系统,激光能量采集探头和激光光学质量采集CCD探头安装在需要检测的激光设备的光路输出端,激光能量采集探头和激光光学质量采集CCD探头的数据传输线缆连接至光学数据接收计算系统,光学数据接收计算系统的数据传输线缆连接至工控计算机的接收端口。
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