[实用新型]半导体发光器件有效
申请号: | 201520038292.8 | 申请日: | 2015-01-20 |
公开(公告)号: | CN204809248U | 公开(公告)日: | 2015-11-25 |
发明(设计)人: | 王冬雷;梅劲;陈刚毅 | 申请(专利权)人: | 扬州德豪润达光电有限公司 |
主分类号: | H01L33/32 | 分类号: | H01L33/32;H01L33/20;H01L33/12 |
代理公司: | 广东秉德律师事务所 44291 | 代理人: | 杨焕军 |
地址: | 225002 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 半导体发光器件,包括衬底、形成于衬底上的结晶层、氮化镓缓冲层、N型氮化镓层、过渡层、多量子阱层和P型氮化镓层;还包括低温氮化镓层,低温氮化镓层形成于N型氮化镓层上,且其上形成若干凹坑;应力释放层,应力释放层的厚度小于100nm并由依次形成于低温氮化镓层上的1至K层Inx(k)Ga1-x(k)N构成,其中,第k层Inx(k)Ga1-x(k)N的厚度dk小于第k-1层Inx(k-1)Ga1-x(k-1)N的厚度dk-1,且x(k)>x(k-1),k=1,…,K,K≤5;P型氮化镓层覆盖凹坑。本实用新型通过根据量子阱的铟的组分调整应力释放层中InGaN的层数及总厚度,使各层InGaN的铟的组分从底层至表面递增,厚度递减,达到逐步释放应力的目的。 | ||
搜索关键词: | 半导体 发光 器件 | ||
【主权项】:
半导体发光器件,包括:衬底、形成于所述衬底上的结晶层、氮化镓缓冲层、N型氮化镓层、过渡层、多量子阱层和P型氮化镓层;其特征在于,还包括低温氮化镓层,所述低温氮化镓层形成于所述N型氮化镓层上,且其上形成若干凹坑;应力释放层,所述应力释放层的厚度小于100nm并由依次形成于所述低温氮化镓层上的1至K层Inx(k)Ga1‑x(k)N构成,其中,第k层Inx(k)Ga1‑x(k)N的厚度dk小于第k‑1层Inx(k‑1)Ga1‑x(k‑1)N的厚度dk‑1,且x(k)>x(k‑1),k=1,…,K,K≤5;所述P型氮化镓层覆盖所述凹坑。
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