[实用新型]一种高频疲劳试验卡有效
| 申请号： | 201520044906.3 | 申请日： | 2015-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN204461704U | 公开（公告）日： | 2015-07-08 |
| 发明（设计）人： | 沈波 | 申请（专利权）人： | 杭州朗杰测控技术开发有限公司 |
| 主分类号： | G01M7/02 | 分类号： | G01M7/02 |
| 代理公司： | 杭州华鼎知识产权代理事务所(普通合伙) 33217 | 代理人： | 胡根良 |
| 地址： | 310004 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种高频疲劳试验卡，应用于高频疲劳试验机，以辅助高频疲劳试验机完成静态疲劳测量以及动态疲劳测量。一种高频疲劳试验卡，包括带金手指的板卡，所述板卡包括DSP微处理模块、双口RAM存储器、EEPROM存储器和若干信号接口，所述EEPROM存储器、所述若干信号接口和所述双口RAM存储器分别与所述DSP微处理模块连接，所述双口RAM存储器与所述若干信号接口之间连接有FPGA可编程门阵列，所述双口RAM存储器与所述金手指之间连接有PCI接口，所述DSP微处理模块上设有SVPWM接口、SPI总线桥、I/O接口和I2C接口，所述SVPWM接口、所述SPI总线桥和所述I/O接口分别与所述若干信号接口连接，所述FPGA可编程门阵列上设有与所述若干信号接口连接的脉冲发生器。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高频 疲劳 试验 | ||
【主权项】：
一种高频疲劳试验卡，其特征在于：包括带金手指的板卡，所述板卡包括DSP微处理模块、双口RAM存储器、EEPROM存储器和若干信号接口，所述EEPROM存储器、所述若干信号接口和所述双口RAM存储器分别与所述DSP微处理模块连接，所述双口RAM存储器与所述若干信号接口之间连接有FPGA可编程门阵列，所述双口RAM存储器与所述金手指之间连接有PCI接口，所述DSP微处理模块上设有SVPWM接口、SPI总线桥、I/O接口和I2C接口，所述SVPWM接口、所述SPI总线桥和所述I/O接口分别与所述若干信号接口连接，所述FPGA可编程门阵列上设有与所述若干信号接口连接的脉冲发生器。
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