[实用新型]均匀壁厚的准直器有效

专利信息
申请号: 201520080940.6 申请日: 2015-02-05
公开(公告)号: CN204516370U 公开(公告)日: 2015-07-29
发明(设计)人: 李延召;宋点赛;李炳轩;周彪 申请(专利权)人: 武汉知微科技有限公司
主分类号: G21K1/02 分类号: G21K1/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 430073 湖北省武汉市东湖新技术开*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 实用新型提供一种均匀壁厚的准直器,包括由射线吸收材料制成的若干第一准直片和若干第二准直片以及允许射线通过且位于所述第一准直片和所述第二准直片之间的若干准直孔,所述第一准直片和所述第二准直片分别具有若干第一波纹结构和若干第二波纹结构,每一所述第一波纹结构具有二第一对准结构和多个第一棱壁结构,每一所述第二波纹结构具有二第二对准结构和多个第二棱壁结构,所述第一棱壁结构的厚度等于所述第二棱壁结构的厚度,所述第一、第二对准结构的厚度之和等于所述第一棱壁结构的厚度。制作时加工形成所述第一和第二准直片,使所述第一、第二对准结构的厚度之和的等于所述第一棱壁结构的厚度,然后交错堆叠所述第一、第二准直片。
搜索关键词: 均匀 准直器
【主权项】:
一种均匀壁厚的准直器,可对照在检测器上的射线进行准直,包括由射线吸收材料制成的若干第一准直片和若干第二准直片,还包括允许射线通过的若干准直孔;所述第一准直片和所述第二准直片分别具有若干第一波纹结构和若干第二波纹结构,每一所述第一波纹结构具有相对设置的二第一对准结构和与所述二第一对准结构交错设置的多个第一棱壁结构,每一所述第二波纹结构具有相对设置的二第二对准结构和与所述二第二对准结构交错设置的多个第二棱壁结构,若干所述第一准直片与若干所述第二准直片交错堆叠,若干所述准直孔位于若干所述第一波纹结构与若干所述第二波纹结构之间,所述第一棱壁结构的厚度等于所述第二棱壁结构的厚度,其特征在于:所述第一对准结构与所述第二对准结构的厚度之和等于所述第一棱壁结构的厚度。
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